Lors de l'analyse des données des capteurs, il est courant de filtrer plusieurs lignes (par exemple, supprimer les arrêts, les week-ends, certaines qualités de produits dans les processus par lots, etc.)
Ce n'est pas possible dans JMP, alors que d'autres logiciels le gèrent automatiquement (voir Grafana ou un autre utilisateur demandant une fonctionnalité similaire ici).Pourtant, le constructeur de carte de contrôle a cette fonctionnalité , limité aux graphiques d'exécution uniquement.
Disons que je veux regarder un groupe d'événements seulement.
Je m'attendrais à avoir une option pour transformer cette vue en ceci automatiquement.
Dans le générateur de cartes de contrôle, vous pouvez obtenir ce graphique après une configuration :
Enfin, un index par événement sera également bon à avoir en option.
JMP doit améliorer les capacités des données de capteur (pas seulement tabulaires), surtout maintenant que les connecteurs natifs aux historiques sont possibles.
Les applications industrielles de ces visualisations peuvent être trouvées ici, y compris un alignement lorsque les événements ont des durées différentes :
https://arxiv.org/abs/2209.09660
