Quando si analizzano i dati dei sensori, è comune filtrare più righe (ad esempio, rimuovendo arresti, fine settimana, determinati gradi di prodotto nei processi batch, ecc.)
Questo non è possibile fare in JMP, mentre altri software lo gestiscono automaticamente (vedi Grafana o un altro utente che richiede una funzionalità simile Qui).Tuttavia, il costruttore di carte di controllo ha questa funzionalità , limitato solo ai grafici di esecuzione.
Diciamo che voglio guardare solo un gruppo di eventi.
Mi aspetterei di avere un'opzione per trasformare automaticamente questa vista in questa.
Nel generatore di carte di controllo, puoi ottenere questo grafico dopo alcune configurazioni:
Infine, sarebbe bene avere anche un indice per evento come opzione.
JMP deve migliorare le funzionalità per i dati dei sensori (non solo tabulari), soprattutto ora che sono possibili connettori nativi per gli storici.
Le applicazioni industriali di queste visualizzazioni possono essere trovate qui, incluso un allineamento quando gli eventi hanno durate diverse:
https://arxiv.org/abs/2209.09660
