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如何使用 JMP 進行半導體統計過程控制 (SPC)？

 

JMP 對於所有行業的 SPC 都很有用，包括本例中的半導體。

 

請參閱如何：

• 了解流程變化並添加警報
• 篩選多個參數以確保穩定性（過程篩選）
• 過濾以查找重要因素（預測篩選）並確定他們的能力
• 監測多個參數於一處控制圖表通過模型驅動的多元控製圖來識別導致out-of-的底層組件控制信號

質量和工藝工程