656121_zh-TW

liliconcom

如何使用 JMP 進行半導體統計過程控制 (SPC)？

該視頻目前正在處理中。 請在幾分鐘後再試一次。

（在我的視頻中查看）

 

JMP 對於所有行業的 SPC 都很有用，包括半導體的這個例子。

 

請參閱如何：

• 了解流程變化並添加警報
• 篩選多個參數以確保穩定性（過程篩選）
• 過濾以查找重要因素（預測篩選）並確定他們的能力
• 在一個進程中監控多個進程的參數控制圖表( ) 轉 ID導致out-of-的底層組件控制信號

質量和工藝工程