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¿Cómo puedo usar JMP para el control estadístico de procesos (SPC) para semiconductores?
JMP es útil para SPC en todas las industrias, incluido este ejemplo para semiconductores.
Vea cómo:
Comprenda los cambios de proceso y agregue alarmas
Cribado de múltiples parámetros para la estabilidad (
Detección de procesos
)
Filtrar para encontrar factores importantes (
Cribado de predictores
) y determinar su capacidad
Supervise múltiples parámetros en uno
control
gráfico a través
Gráfica de control multivariante impulsada por modelos
para identificar el
componentes subyacentes que conducen a fuera de
control
señales
Ingeniería de Calidad y Procesos
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