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如何使用 JMP 进行半导体统计过程控制 (SPC)？

 

JMP 对于所有行业的 SPC 都很有用，包括本例中的半导体。

 

请参阅如何：

• 了解流程变化并添加警报
• 筛选多个参数以确保稳定性（过程筛选）
• 过滤以查找重要因素（预测筛选）并确定他们的能力
• 监测多个参数于一处控制图表通过模型驱动的多元控制图来识别导致out-of-的底层组件控制信号

质量和工艺工程