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如何使用 JMP 进行半导体统计过程控制 (SPC)？

该视频目前正在处理中。 请在几分钟后再试一次。

（在我的视频中查看）

 

JMP 对于所有行业的 SPC 都很有用，包括半导体的这个例子。

 

请参阅如何：

• 了解流程变化并添加警报
• 筛选多个参数以确保稳定性（过程筛选）
• 过滤以查找重要因素（预测筛选）并确定他们的能力
• 在一个进程中监控多个进程的参数控制图表( ) 转 ID导致out-of-的底层组件控制信号

质量和工艺工程