半導体の統計的プロセス制御 (SPC) に JMP を使用するにはどうすればよいですか?
JMP は、この例の半導体を含め、あらゆる業界の SPC に役立ちます。
方法を参照してください:
- プロセスの変化を理解し、アラームを追加する
- 安定性について複数のパラメータをスクリーニングする (プロセススクリーニング）
- フィルタリングして重要な要素を見つけます (予測因子スクリーニング）そしてその能力を判断する
- 複数のパラメータを 1 つで監視するコントロールチャートスルーモデル駆動型多変量管理図を識別する不足を引き起こす基礎となるコンポーネントコントロール信号
品質およびプロセスエンジニアリング
