半導体の統計的プロセス制御 (SPC) に JMP を使用するにはどうすればよいですか?
JMP は、この半導体向けの例を含め、あらゆる業界の SPC に役立ちます。
方法を参照してください:
- プロセスの変化を理解し、アラームを追加する
- 安定性のために複数のパラメータをスクリーニングする (プロセススクリーニング）
- フィルタリングして重要な要素を見つけます (予測因子スクリーニング）そしてその能力を判断する
- 複数のプロセスのパラメータを 1 つで監視するコントロールチャート()をIDに不足を引き起こす基礎となるコンポーネントコントロール信号
品質およびプロセスエンジニアリング
