Wie kann ich JMP für die statistische Prozesskontrolle (SPC) für Halbleiter verwenden?
JMP ist für SPC in allen Branchen nützlich, auch in diesem Beispiel für Halbleiter.
Erfahren Sie, wie Sie:
- Verstehen Sie Prozessverschiebungen und fügen Sie Alarme hinzu
- Überprüfung mehrerer Parameter auf Stabilität ( Prozessscreening )
- Filtern Sie, um wichtige Faktoren zu finden ( Prädiktor-Screening ) und bestimmen Sie ihre Leistungsfähigkeit
- Überwachen Sie mehrere Parameter in einem Kontrolle Diagramm durch Modellgesteuertes multivariates Regeldiagramm um die zu identifizieren zugrunde liegende Komponenten, die zu Fehlfunktionen führen Kontrolle Signale
Qualitäts- und Verfahrenstechnik
