nav[aria-label="Primary Navigation"] { padding: 0; & ul { list-style: none; width: 100%; display: flex; flex-direction: row; justify-content: start; align-items: start; gap: 30px; padding: 0; & li { margin: 0; } & ul li { list-style: none; } } }

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Comment puis-je utiliser JMP pour le contrôle statistique des processus (SPC) pour les semi-conducteurs ?

JMP est utile pour SPC dans toutes les industries, y compris cet exemple pour les semi-conducteurs.

Découvrez comment :

Comprendre les changements de processus et ajouter des alarmes
Dépistage de plusieurs paramètres pour la stabilité ( Dépistage des processus )
Filtrer pour trouver les facteurs importants ( Dépistage des prédicteurs ) et déterminer leur capacité
Surveiller plusieurs paramètres en un seul contrôle graphique à travers Carte de contrôle multivariée pilotée par le modèle pour identifier le composants sous-jacents qui conduisent à contrôle signaux

Ingénierie de la qualité et des procédés

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