解卷積質譜我是 JMP 17 Pro 用戶，我很確定我想做的事情非常簡單，但我只是還沒有完全實現。 該問題在隨附的幻燈片中進行了解釋，其中的數字有助於闡明我試圖解決的問題。 在此分析中，通過掃描電壓以將特定質量的離子束通過狹縫偏轉到檢測器中來測量其強度，從而獲得單個質量峰。 光束的直徑小於狹縫的寬度，因此單個質量峰看起來像具有平頂的階躍函數。 峰的寬度有效地代表了狹縫的寬度。 現在快進到現實生活中，我們可以有 3 或 4 個峰，其間隔僅 0.05 或更小的原子質量單位。 然後測量的強度是這些的捲積，並且解卷積並獲得每個峰的質心質量值將非常有用。 我首先嘗試了簡單的方法 - 分佈和擬合連續，但可用的擬合類型並不真正合適。 我還嘗試了“擬合曲線”，看看是否有幫助，但還是沒有運氣。 我現在正在考慮 FDE 中的小波分析是否是可行的方法，因為 Haar 小波似乎相當合適，但我正在努力解釋結果（或者可能沒有正確啟動平台）。 實際上，在所附數據中，看起來可能有 4-5 個峰值。 非常感謝您的任何幫助！ 最好的，格雷格
高級統計建模預測建模和機器學習回复：解卷積質譜我還應該補充一點，我們通常用對數刻度上的 y 軸（計數）來查看這些光譜，然後可以清楚地顯示兩個以上峰值的存在。 我們通常很少有電子噪音。
回复：解卷積質譜我想您已經找到並通讀了HELP)) 使用 JMP 進行信號反捲積？
回复：解卷積質譜感謝您的答复！ 是的，我看過那個帖子。 我真的很喜歡使用該分佈的簡單性，但缺點是它僅限於 3 個混合正態分佈。 事實上，峰值形狀不是由正態分佈而是階躍函數來描述的，這一事實也並不理想，但我認為我可以接受這一點。 昨天我嘗試使用 PLS 和 FDE，但實際上並沒有走得太遠。 但今天又是新的一天，我們要堅持下去……
回复：解卷積質譜很抱歉我沒能幫上忙。 現在我想起來了，我讀到這張紙莫布雷等人。最近。 也許您的解決方案或至少其路徑是從圖 20 所示的內容開始的？ 如果我理解正確的話，函數 PCA 應該允許您找到解卷積質譜所需的組件。 然而，我認為不可能定義混合中所需的成分數量，但功能 PCA 會向您顯示重新創建質譜所需的成分數量（不過，我可能是錯的）。 如果莫布雷等人。只是遠程相關，而不是可能阿爾扎克等人。也很感興趣。
祝您在質譜方面好運！
