解卷积质谱我是 JMP 17 Pro 用户，我很确定我想做的事情非常简单，但我只是还没有完全实现。 该问题在随附的幻灯片中进行了解释，其中的数字有助于阐明我试图解决的问题。 在此分析中，通过扫描电压以将特定质量的离子束通过狭缝偏转到检测器中来测量其强度，从而获得单个质量峰。 光束的直径小于狭缝的宽度，因此单个质量峰看起来像具有平顶的阶跃函数。 峰的宽度有效地代表了狭缝的宽度。 现在快进到现实生活中，我们可以有 3 或 4 个峰，其间隔仅 0.05 或更小的原子质量单位。 然后测量的强度是这些的卷积，并且解卷积并获得每个峰的质心质量值将非常有用。 我首先尝试了简单的方法 - 分布和拟合连续，但可用的拟合类型并不真正合适。 我还尝试了“拟合曲线”，看看是否有帮助，但还是没有运气。 我现在正在考虑 FDE 中的小波分析是否是可行的方法，因为 Haar 小波似乎相当合适，但我正在努力解释结果（或者可能没有正确启动平台）。 实际上，在所附数据中，看起来可能有 4-5 个峰值。 非常感谢您的任何帮助！ 最好的，格雷格
高级统计建模预测建模和机器学习回复：解卷积质谱我还应该补充一点，我们通常在对数刻度上使用 y 轴（计数）查看这些光谱，然后清楚地显示存在两个以上的峰值。 我们通常很少有电子噪音。
回复：解卷积质谱我想您已经找到并通读了HELP)) 使用 JMP 进行信号反卷积？
回复：解卷积质谱感谢您的答复！ 是的，我看过那个帖子。 我真的很喜欢使用该分布的简单性，但缺点是它仅限于 3 个混合正态分布。 事实上，峰值形状不是由正态分布而是阶跃函数来描述的，这一事实也并不理想，但我认为我可以接受这一点。 我昨天尝试使用 PLS 和 FDE，但确实没有走得太远。 但今天又是新的一天，我们要坚持下去……
回复：解卷积质谱很抱歉我没能帮上忙。 现在我想起来了，我读到这张纸莫布雷等人。最近。 也许您的解决方案或至少其路径是从图 20 所示的内容开始的？ 如果我理解正确的话，函数 PCA 应该允许您找到解卷积质谱所需的组件。 然而，我认为不可能定义混合中所需的成分数量，但功能 PCA 会向您显示重新创建质谱所需的成分数量（不过，我可能是错的）。 如果莫布雷等人。只是远程相关，而不是可能阿尔扎克等人。也很感兴趣。
祝您在质谱方面好运！
