Soy un usuario de JMP 17 Pro y estoy bastante seguro de que lo que quiero hacer es bastante sencillo, pero no estoy llegando allí. El problema se explica en el powerpoint adjunto donde las figuras ayudan a aclarar el problema que estoy tratando de resolver. En este análisis, se obtiene un pico de una sola masa escaneando un voltaje para desviar un haz de iones de masa específica a través de una rendija hacia un detector que mide su intensidad. El diámetro del haz es menor que el ancho de una rendija, por lo que un pico de una sola masa parece una función escalonada con una parte superior plana. El ancho del pico representa efectivamente el ancho de la rendija. Ahora avance rápidamente a la vida real, donde podemos tener 3 o 4 picos separados por solo 0,05 o menos unidades de masa atómica. La intensidad medida es entonces una convolución de estos, y sería tremendamente útil desconvolucionar y obtener el valor de masa del centroide de cada pico. Primero probé la forma simple: distribución y ajuste continuo, pero el tipo de ajuste disponible no es realmente adecuado. También probé "Fit Curve" para ver si eso podría ayudar, pero nuevamente no tuve suerte. Ahora estoy pensando si el análisis de wavelet en FDE es el camino a seguir, ya que un wavelet de Haar parece bastante apropiado, pero estoy luchando con la interpretación de los resultados (o tal vez no he lanzado la plataforma correctamente). De manera realista, en los datos adjuntos, parece que probablemente haya 4-5 picos allí. ¡Muchas gracias por cualquier ayuda! mejor, greg