創建半導體晶圓熱圖在晶圓熱圖圖形中，晶圓上的每個矩形芯片都用與芯片的屬性或參數值相關聯的顏色表示。 熱圖用於可視化芯片位置對任何感興趣的連續或分類變量的影響。分析晶圓熱圖可以深入了解芯片坐標對其作為基板上的半導體器件的未來性能的影響。
首先使用半導體工具包插件根據 X 和 Y 坐標的尺寸或每個芯片的尺寸創建晶圓的幾何形狀。 了解如何 1) 通過根據芯片和晶圓的製造尺寸輸入形狀參數來創建芯片坐標圖，以及 2) 使用“起源”和“排除”字段識別任何部分芯片。
最後，了解如何編輯保存的晶圓圖 XY 和映射文件以創建創建晶圓熱圖所需的芯片索引列。
基礎數據分析和建模
