Colleen McKendry, leitende Statistikautorin, JMP
Diese Präsentation ist eine Erweiterung des Vortrags „Measurement Systems Analysis for Curve Data Using Functional Random Effects Models“, der auf der JMP Discovery Europe 2023 gehalten wurde. Hier wurde ein funktionales Zufallseffektmodell verwendet, um eine Functional Gauge R&R-Analyse an Daten durchzuführen, die eine Reihe von Kurven als Antwort enthielten.In dieser Anwendung wurde das Funktionsmodell mithilfe der Eigenfunktionen erweitert und dann als Zufallseffektmodell ausgedrückt, bei dem Varianzkomponenten mithilfe von Standardmethoden geschätzt wurden. Diese Analyse wurde mit den Plattformen Functional Data Explorer und Fit Mixed durchgeführt.
In der aktualisierten Version dieser Präsentation zeige ich, dass es möglich ist, mit demselben Modellerweiterungsansatz feste Effekte in diese Art der Analyse einzubeziehen. Das Funktionsmodell wird weiterhin mithilfe der Eigenfunktionen erweitert, stattdessen jedoch als verallgemeinertes gemischtes Modell ausgedrückt. Ich diskutiere auch Ideen zur Verwendung der Wavelet-Erweiterung anstelle der Eigenfunktionserweiterung und wie dies die Modellanpassungen für bestimmte Datentypen verbessern könnte.
