Jerry Fish，SAS JMP 系統工程師
零件分佈很容易測量：製造零件，操作員用量具測量零件，然後將結果組合成測量的零件分佈 (MPD)。
但最終的分佈受到與測量系統相關的誤差的污染。隨機誤差、規格偏差和線性問題都會導致測量真實零件值的不准確，因此永遠無法真正了解各個值。
然而，如果我們有辦法估計真實零件分佈 (TPD)，我們可以將其與 MPD 進行比較，並根據 1 類和 2 類誤差計算與使用不完美量規相關的影響（成本）。
如果量規在正態分佈的 TPD 周圍產生簡單的正態分佈誤差（即，簡單地從 MPD 方差中減去量規方差即可得到 TPD 方差），那麼從 MPD 估計 TPD 就很簡單了。但如果儀表存在線性問題怎麼辦？或者如果 TPD 具有非正常形狀怎麼辦？
本文描述了一種新的 JSL 腳本，用於根據任意 MPD 和相關的儀表性能特徵確定任意（即非參數）TPD。然後可以將所得的 TPD 輸入到第二個腳本，以確定與不完美的量規相關的生產成本，並設置保護帶以優化量規誤差的經濟性。根據 TPD 形狀、各種規格特性和分佈分辨率來評估估計例程的性能。
