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測定された分布とゲージ特性から任意の真の部品分布を取得する (2023-US-30MP-1480)Jerry Fish 氏、SAS、JMP システム エンジニア
部品分布の測定は簡単です。部品が作成され、オペレータがゲージで部品を測定し、その結果が測定部品分布 (MPD) にまとめられます。しかし、結果として得られる分布には、測定システムに関連する誤差が含まれています。ランダムな誤差、ゲージのバイアス、および直線性の問題はすべて、実際の部品の値の測定における不正確さの原因となるため、個々の値を正確に知ることはできません。ただし、真の部品分布 (TPD) を推定する方法があれば、それを MPD と比較し、タイプ 1 およびタイプ 2 の誤差に関して不完全ゲージの使用に伴う影響 (コスト) を計算できます。ゲージが正規分布 TPD の周囲に単純な正規分布誤差を生成する場合 (つまり、MPD 分散からゲージの分散を差し引くだけで TPD 分散が得られます)、MPD から TPD を推定することは簡単です。しかし、ゲージに直線性の問題がある場合はどうなるでしょうか?あるいは、TPD の形状が正常ではない場合はどうなるでしょうか?この論文では、任意の MPD および関連するゲージ性能特性から任意の (つまり、ノンパラメトリック) TPD を決定するための新しい JSL スクリプトについて説明します。結果として得られる TPD は、不完全なゲージに関連する製造コストを決定するための 2 番目のスクリプトに供給され、ゲージ誤差の経済性を最適化するためのガードバンドの設定が可能です。推定ルーチンのパフォーマンスは、TPD の形状、さまざまなゲージ特性、分布の分解能の観点から評価されます。