Erfahren Sie, wie Sie:
- Erfahren Sie, wie Sie die interaktiven Qualitäts- und SPC-Funktionen von JMP einsetzen
- Identifizieren Sie routinemäßige (häufige Ursache) und abnormale (besondere Ursache) Prozessschwankungen im Laufe der Zeit
- Messen Sie, wie gut ein Prozess im Vergleich zu seinen vorgegebenen Spezifikationsgrenzen funktioniert
- Ermitteln Sie ganz einfach Stabilitäts- und Fähigkeitsmetriken für eine große Anzahl von Prozessen im Zeitverlauf
- Vergleichen Sie ganz einfach Stabilitätsdaten vor und nach einer Prozessänderung
- Erlernen Sie die Grundlagen zur Verwendung
- Regelkarten-Generator
- Prozessfähigkeit
- Spezifikationsgrenzen verwalten
- Prozessscreening
- Attribut- und Variablenregelkarten mit Phasen
- Pareto-Diagramme
Fragen beantwortet von Clovis Weisbart @cweisbart und Mike Anderson @MikeD_Anderson während der Live-Demo.
F: Können Kontrollkarten den Durchschnitt im Diagramm selbst anzeigen, ähnlich wie dies normalerweise bei Variabilitätsdiagrammen der Fall ist?
A: Ja. Diese werden angezeigt, wenn Sie Untergruppen verwenden.
F: Was ist der Unterschied zwischen „Innerhalb“ und „Gesamt“ im Prozessfähigkeitshistogramm?
A: Wenn Sie eine Untergruppe innerhalb definiert haben, wird der Wert innerhalb der Untergruppe angezeigt. Insgesamt ist der Wert für den gesamten Datensatz. „Innerhalb“ wird zur Berechnung von Cpk und „Gesamt“ zur Berechnung von Ppk verwendet. „Innerhalb“ dient der Betrachtung kurzfristiger Schwankungen und basiert auf der Untergruppengröße. „Gesamt“ betrachtet Schwankungen im Laufe der Zeit.Sehen statistische Angaben .
F: Ich muss immer die Richtlinien für Cp, Pp, Cpk, Ppk nachschlagen, weil ich sie nicht regelmäßig verwende. Kann ich die Werte in der Tabelle als Hinweis farblich kennzeichnen, z. B. Rot/Gelb/Grün in den Kontrollkarten?
A: Es gibt einige Optionen zur kontextbezogenen Farbgebung in den JMP-Einstellungen (JMP > Einstellungen auf dem Mac oder Datei > Einstellungen auf dem PC), die Sie erkunden können.
F: Was ist Ihrer Meinung nach der Unterschied zwischen dem IMR-Diagramm und Xbar-R oder Xbar-S (da JMP je nach Datentyp zwischen ihnen unterscheidet)?
A: IMR verwendet Einzelmessungen. R verwendet Untergruppenmittelwerte mit einem Bereich für die Variabilität. S verwendet nur die Standardabweichung.
F: Wie groß ist die empfohlene Untergruppengröße, um vom R-Diagramm zum S-Diagramm zu wechseln?
A: Es gibt keines, das mir bekannt ist.Es geht vielmehr darum, wie Sie die Variation im Datensatz quantifizieren möchten.
F: Was ist der Unterschied zwischen einer S- und einer R-Karte?
A: S = Standardabweichung, R = Bereich.Siehe auch Dokumentation hier: https://www.jmp.com/support/help/en/17.1/#page/jmp/shewhart-control-charts-for-variables.shtml
F: Kann ich mit dem Control Chart Builder eine Levey-Jennings-Kontrollkarte zeichnen?
A: Ja.Es handelt sich lediglich um eine Änderung der Variabilitätsmethode im IMR-Diagramm in den Diagrammeigenschaften.
F: Gibt es eine Möglichkeit, zusätzlich zu den Spezifikationsgrenzen auch Massenlastkontrollgrenzen festzulegen?
A: Die Methode „Get Limits“ zum Festlegen von Kontrollgrenzen ist die flexibelste. Sie sollten diese Methode in den folgenden Fällen verwenden: 1) Wenn Sie Kontrollgrenzen für viele verschiedene Prozesse haben 2) Wenn Sie unterschiedliche Kontrollgrenzen für jede Phase haben (siehe Angeben mehrerer Sätze von Kontrollgrenzen). Um die Methode „Get Limits“ verwenden zu können, benötigen Sie natürlich eine Datentabelle, die Ihre historischen Grenzwerte definiert. Siehe Einzelheiten . https://www.jmp.com/support/help/en/17.1/#page/jmp/example-of-control-limits.shtml#ww1831927
F: Kann ich festlegen, dass auf der X-Achse das tatsächliche Datum angezeigt wird?
A: Es ist möglich, das angezeigte Format zu ändern oder Datumsangaben als X-Werte zu verwenden, je nachdem, wie Ihre Daten eingehen.
F: Kann ich Datenbildschirmgrenzen einrichten, die fehlerhafte Testdaten auswerfen?
A: Ja. Dazu können Sie einen lokalen Datenfilter in das Kontrolldiagramm einfügen.
F: Kann ich Spezifikations- und Kontrollgrenzen mit JMP 15 laden?
A: Ja. Siehe Einzelheiten .
F: Können Sie uns eine Möglichkeit zeigen, die Kontrollgrenzen für viele Prozesse zu importieren?
A: Im Allgemeinen sollten Kontrollgrenzen berechnet werden. Es gibt nicht wirklich eine Möglichkeit, dies in den Spalteneigenschaften massenhaft zu überschreiben.Unterstützung hierfür können Sie unter „Limits verwalten“ im J anfordern MP-Wunschliste.
F: Wenn Sie über wiederholte Messungen verfügen (z. B. ein Instrument, dessen Leistung im Laufe der Zeit bewertet wird), könnte diese Plattform verwendet werden, oder müssten Sie eine Plattform verwenden, die speziell für die wiederholte Analyse derSELBEN Einheit entwickelt wurde (im Vergleich zu verschiedenen Einheiten, die zu unterschiedlichen Zeiten hergestellt wurden). ?Ich denke an Situationen, in denen Instrumente mit der Zeit weniger genau (oder weniger präzise) werden.
A: Sie können eine Kontrollkarte verwenden, wenn Sie beispielsweise eine Standardreferenz für ein Spektrometer oder ähnliches messen. Das CUSUM-Diagramm eignet sich gut zur Betrachtung der Prozessdrift im Zeitverlauf.
F: Was ist beim Process Screening der Unterschied zwischen Gruppieren und „Gruppieren nach“?
A: Gruppierung wird verwendet, wenn jede Prozessvariable auf jeder Kombination von Ebenen der Gruppierungsvariablen analysiert werden soll. Die Ergebnisse werden in einem einzigen Bericht dargestellt.Durch die Gruppierung haben Sie also die Möglichkeit, einen Kanal in mehrere Unterkanäle aufzuteilen. Wenn beispielsweise ein Datensatz mit mehreren an diesen Datenstrom angeschlossenen Tools eingeht, können Sie ihn mithilfe der Gruppierung ausschneiden.(Gruppieren) nach ist für eine Spalte, deren Ebenen separate Analysen definieren.Für jede Ebene der angegebenen Spalte werden die entsprechenden Zeilen mithilfe der anderen von Ihnen angegebenen Variablen analysiert. Die Ergebnisse werden in separaten Tabellen und Berichten dargestellt. Wenn mehr als eine By-Variable zugewiesen ist, wird für jede mögliche Kombination der Ebenen der By-Variablen eine separate Analyse erstellt.
F: Wie können wir den Stabilitätsindex berechnen?
A: Die Formel finden Sie hier Hier .
F: Wie beschreiben Sie den Unterschied zwischen Within- und Overall-Sigma?
A: „Innerhalb“ wird zur Berechnung von Cpk und „Gesamt“ zur Berechnung von Ppk verwendet. „Innerhalb“ dient der Betrachtung kurzfristiger Schwankungen und basiert auf der Untergruppengröße. „Gesamt“ betrachtet Schwankungen im Laufe der Zeit.Siehe Einzelheiten .
Q; Wie kann ich angeben, dass die Spezifikationsgrenzen zu einem bestimmten Zeitpunkt geändert wurden? Kann ich die Leistung im Laufe der Zeit im Verhältnis zu den jeweils geltenden Grenzwerten beurteilen?
A: Sie könnten eine Phasenspalte hinzufügen und den verschiedenen Phasen unterschiedliche Spezifikationsgrenzen zuordnen.
F: Ich glaube, dass beim Prozessscreening davon ausgegangen wird, dass jedes Prozessqualitätsmerkmal eine Normalverteilung aufweist.Beispielsweise sind einige meiner 117 Prozesse nicht normal. Ich muss alle 117 überprüfen und die Verteilung in der Spalteneigenschaft zuweisen.Rechts?
A: Ja. Und Sie können dies mithilfe von Standardattributen schnell erreichen.
F: Was bedeuten die Farben im Zieldiagramm?
A: Sie bezogen sich auf Cpk.Sie können hier Werte herausfinden, indem Sie das Fragezeichen-Symbol (?) verwenden. Dadurch gelangen Sie zur Kontextdokumentation, in der Sie die Antwort auf Ihre Frage finden können.In diesem Fall wurde Folgendes gefunden:
Wenn Sie Schattierungsstufen auswählen, werden schattierte Bereiche im angezeigt Parzelle.Die schattierten Bereiche hängen von der Beziehung zwischen ab P und Ppk, mit P stellt den Wert dar, der im Feld unter Ppk angezeigt wird:
– Punkte im roten Bereich haben Ppk < P .
– Punkte im gelben Bereich haben P < Ppk < 2 P .
– Punkte im grünen Bereich haben 2 P < Ppk.
Sehen Sie sich dieses Video an, um zu erfahren, wie Sie das ? verwenden. um Antworten zu erhalten, wenn Sie JMP verwenden.
Fragen und Antworten aus früheren Sitzungen zu diesem Thema:
F: Was ist ein Bereichsdiagramm?
A: Ein Bereichsdiagramm betrachtet den laufenden Bereich der Daten.Sie können es in den Optionen des Kontrolldiagramm-Generators in ein Standard-Entwicklungsdiagramm konvertieren.
F: Wie wird das Within-Sigma für den Cpk bestimmt?
A: Cpk ist ein Maß, das angibt, wie viele Standardabweichungen die Spezifikationsgrenzen vom Zentrum des Prozesses entfernt sind. Die Cpk-Indizes basieren auf einer Schätzung, die versucht, nur Variationen aufgrund gemeinsamer Ursachen zu erfassen. Die Cpk-Indizes werden mithilfe von Sigma-Schätzungen innerhalb der Untergruppe oder zwischen und innerhalb der Untergruppe erstellt. Auf diese Weise versuchen sie, die tatsächliche Prozessstandardabweichung widerzuspiegeln. Wenn ein Prozess nicht stabil ist, können sich die unterschiedlichen Schätzungen von Sigma deutlich unterscheiden. Siehe die Dokumentation für mehr Details.
F: Gibt es eine Nachschlagetabellenoption für fehlende Wertcodes?
A: Sie können in den Spalteneigenschaften mehrere Codes für fehlende Werte definieren.Sie können dies für mehrere Spalten tun, indem Sie „Attribute standardisieren“ verwenden. Sie können eine Nachschlagetabelle manuell mit JSL erstellen.
F: Müssen die Namen von LSL, Target und USL in der Spezifikationsgrenzwerttabelle identisch sein? Wenn ich beispielsweise eine Tabelle mit Spezifikationsgrenzen mit den Spaltennamen „Untere“, „Obere“ und „Ziel“ hätte, würde das nicht funktionieren?
A: Die Manoints Das Age Spec Limits-Tool erwartet diese Namen. Bei der Process Screening Platform ist dies nicht der Fall.
F: Können Sie die Untergruppenachse ändern/skalieren, um nur die letzten 50 Lose anzuzeigen, damit die Los-IDs in IR/MR-Diagrammen lesbar sind?
A: Ja.Doppelklicken Sie einfach auf die Achse, um auf die Achseneigenschaften zuzugreifen. Oder Sie können Achsen wie bei anderen Diagrammen ziehen. Eine Möglichkeit, dies zu tun, besteht darin, die X-Achse Ihres ersten Diagramms zu ändern, „Bearbeiten“ > „Achseneinstellungen kopieren“ zu verwenden, dann die Strg-Taste gedrückt zu halten und „Bearbeiten“ > „Achseneinstellungen einfügen“ zu verwenden.
F: Können wir unsere eigenen Tests definieren?
A: Ja, es gibt eine benutzerdefinierte Testoption.Im Kontrolldiagramm-Generator ist für einige Diagrammtypen die Funktion „Tests anpassen“ im Kontextmenü verfügbar. Sie können damit benutzerdefinierte Tests entwerfen und mehrere Tests gleichzeitig auswählen oder abwählen. Nachdem die Option ausgewählt wurde, wird das Fenster „Tests anpassen“ zum Entwerfen der Tests angezeigt. Wählen Sie eine Testbeschreibung aus und geben Sie die gewünschte Nummer (n) und Bezeichnung ein. Sie können die Einstellungen in den Einstellungen speichern und die Standardeinstellungen wiederherstellen. Nur für Variablen- und Attributdiagrammtypen verfügbar. Siehe die Dokumentation für mehr Details.
Im Prozessscreening können Sie mit „Tests auswählen“ die Tests auswählen, die Sie in die Berechnung der Alarmrate und eines beliebigen Alarms einbeziehen möchten.Um mehrere Tests auszuwählen, drücken Sie die Alt-Taste und klicken Sie auf das rote Dreieck „Process Screening“, um ein Menü mit allen Plattformoptionen zu öffnen.Siehe die Dokumentation für mehr Details.
Customize Tests - Control Chart BuilderrTests anpassen – Control Chart Builder
F: Haben Sie Kommentare zur Verwendung von Ppk vs. Cpk? Das hat für Verwirrung gesorgt, da sich die Beschriftung vor einigen Versionen geändert hat. Was in JMP früher Cpk war, ist jetzt Ppk.
A: Ja, es ist etwas kompliziert. Schauen Sie mal rein Das .Hier sind mehr Einzelheiten auf die Unterschiede.
F: Wie würden Sie Spezifikationen für ein Phasendiagramm importieren, bei dem die verschiedenen Phasen eindeutige Spezifikationen haben?
A: Derzeit können Sie nur einen Satz Spezifikationen pro Prozess verwenden.
F: Wie erstelle ich Regelkarten mit Spezifikationsgrenzen, ohne Grenzen zu berechnen?
A: Kontrollgrenzen werden im Allgemeinen immer berechnet.Spezifikationsgrenzen werden im Allgemeinen auf der Grundlage der Kundenanforderungen festgelegt.Sie können Kontrollgrenzen mithilfe von Spalteneigenschaften festlegen.
F: Mir ist aufgefallen, dass Sie in Ihrer Spalteneigenschaftenliste die Option „Erkennungsgrenzen“ haben.Das steht mir nicht zur Verfügung.Warum?
A: Es wurde in JMP Pro 16 eingeführt, daher benötigen Sie JMP Pro Version 16 oder höher.
F: Kann JMP mir helfen, historische Daten zu nutzen, um Spezifikationsgrenzen zu erstellen?
A: Ja, Sie können Verteilungen an historische Daten anpassen und auch das interaktive Fähigkeitsdiagramm verwenden, um die Auswirkungen sich ändernder Spezifikationsgrenzen zu untersuchen.
Interactive Capability PlotInteraktives Fähigkeitsdiagramm
F: Wie kann ich Regelkarten für zwei Prozesse direkt nebeneinander zeichnen? Zum Beispiel verwende ich Prozess A von 2020 bis heute und habe dann im Jahr 2022 eine Änderung am Prozess vorgenommen und jetzt ist es Prozess B. Ich möchte diese nacheinander zeichnen, um den Schalter in Xbar anzuzeigen.
A: Sie können dies mithilfe eines Phasen- und eines Phasenspaltenwerts tun.Hier ist ein Beispiel für die Verwendung von Diameter.jmp aus unseren Beispieldaten, bei dem ein oder mehrere Diagramme zur Darstellung der Prozesse erstellt werden.
F: Was ist der Unterschied zwischen einer Kontrollgrenze und einer Spezifikationsgrenze?
A: Kontrollgrenzen dienen dazu, die Variabilität des Prozesses zu überwachen, um festzustellen, ob die Variation zu erwarten ist. Spezifikationsgrenzen beziehen sich auf die Leistungsfähigkeit des Produkts und sind die vom Kunden oder Stakeholder definierten Toleranzgrenzen.
Ressourcen:
