答：在本機表中，紅色三角形下方的本機資料篩選器允許對資料進行子集化，並根據其他列資料（例如資料週期）重新計算指標。如果您正在考慮資料管道，JMP 的查詢產生器也可以 ping 符合 ODBC 的資料庫並進行對應的篩選。
答：如果您有 JMP Live 並將控製圖放在那裡，JMP Live 會內建警報系統，當新警報出現時，該系統會向您發送電子郵件，然後由您設定刷新率。刷新率取決於有多少資料、要推送到控製圖的資料通道有多少以及需要多少處理。
答：如果您有不同的規格限制，則表示您的流程中存在 2 個不同等級的差異。一般來說，處理每列資料的一個規格限制是首選的歷史方法。如果它們具有相同的基礎流程但不同的產品，您可以使用短期控製圖。您可以開啟「短控製圖」選項，然後選擇「零件」以指派給具有不同控制限的不同產品，這些產品可能具有相同的處理能力。但是，指定此分析非常棘手，並且會在創建 Cpk 和確定控制限制的來源時產生問題。見下文。
之前現場會議回答的問題：
Q：控製圖能否在圖表本身中顯示平均值，就像變異圖通常的做法一樣？
答：是的。當您使用子組時會顯示這些。
Q：過程能力直方圖中的組內和整體有什麼不同？
答：當您定義了子組內時，將顯示子組內值。總體將是整個資料集的值。 Within 用來計算 Cpk，Overall 用來計算 Ppk。 「內部」是為了考察短期變化，並且基於子組規模，「總體」是著眼於隨著時間的推移而發生的變化。
另一種思考方法是考慮用於計算 Cpk 與 Ppk 的 sigma 值，因為這是這兩個統計數據之間的本質差異（它們的數學公式在其他方面是相同的）。
用於計算 Cpk 的 sigma 的「內部」估計值實際上是作為控製圖練習的一部分定義的每個子組的 sigma 的均方根誤差 (RMSE)。對於個體和移動極差(I-MR) 圖表的情況，“內部”西格瑪估計值是通過考慮每個觀測值與其先前觀測值之間的相對差異來計算的（這就是我們所說的“MR” ）。
用於計算 Ppk 的 sigma 的「總體」估計不考慮子分組。相反，它考慮由每個單獨數據相對於總平均值組成的均方根誤差。另一種思考方式是，總體估計假設子組大小為 1；標準差是在整個資料集上計算的，將其視為一個整體組（未細分）。
查看統計詳情。
Q：我總是必須尋找 Cp、Pp、Cpk、Ppk 的指南，因為我不常使用它們。我可以對錶中的值進行顏色編碼作為提示，就像控製圖中的紅色/黃色/綠色一樣嗎？
答：您可以在 JMP 的首選項（Mac 上的 JMP > 首選項或 PC 上的檔案 > 首選項）中探索一些用於執行上下文著色的選項。
Q：您認為 IMR 圖表與 Xbar-R 或 Xbar-S 之間的差異是什麼（因為 JMP 根據資料類型區分它們）？
答：IMR 使用單獨的測量值。 R 使用具有變異範圍的子組平均值。 S 僅使用標準差。
Q：從 R 圖切換到 S 圖的建議子組大小是多少？
答：據我所知，沒有。更多的是關於如何量化資料集中的變化。
Q：S 圖和 R 圖有什麼差別？
答：S = 標準差，R = 範圍。另請參閱此處的文件： https://www.jmp.com/support/help/en/17.1/#page/jmp/shewhart-control-charts-for-variables.shtml
Q：我可以使用控制圖產生器繪製 Levey Jennings 控制圖嗎？
答：是的。這只是圖表屬性中 IMR 圖表中變異方法的變更。
Q：除了規格限制之外，還有其他方法可以實現批量負載控制限制嗎？
答：指定控制限的 Get Limits 方法是最靈活的。在下列情況下應使用此方法： 1) 如果您對許多不同的流程有控制限 2) 如果您對每個階段有不同的控制限（請參閱指定多組控制限）。當然，要使用「取得限制」方法，您需要一個定義歷史限制的資料表。 查看詳情。 https://www.jmp.com/support/help/en/17.1/#page/jmp/example-of-control-limits.shtml#ww1831927
Q：我可以讓 x 軸顯示實際日期嗎？
答：可以變更顯示格式或使用日期作為 X 值，具體取決於資料的輸入方式。
Q：我可以設定資料螢幕限制來丟棄錯誤的測試資料嗎？
答：是的。您可以在控制圖上放置本機資料篩選器來執行此操作。
Q：您能否向我們展示一種匯入多過程控制限值的方法？
答：一般來說，應該計算控制限。確實沒有辦法在列屬性中批次覆蓋它。您可以在 J MP 願望清單中的管理限制中請求支援。
Q：當您有重複測量（例如，隨著時間的推移評估其性能的儀器）時，是否可以使用該平台，或者您是否需要使用專門設計用於重複分析同一單元（相對於不同時間生產的不同單元）的平台？
答：如果您要測量光譜儀的標準參考或類似的東西，您可以使用控製圖。 CUSUM 圖非常適合查看隨時間變化的過程漂移。
Q：在流程篩選中，分組和「group by」有什麼不同？
答：當您希望在分組變數的每個層級組合下分析每個過程變數時，請使用分組。結果以一份報告形式呈現。因此，分組使您能夠將一個頻道分解為多個子頻道。例如，當您有一個資料集，並且多個工具附加到該資料流時，您可以使用分組將其剪輯出來。 （分組）依據適用於其層級定義單獨分析的欄位。對於指定列的每個級別，將使用您指定的其他變數來分析相應的行。結果顯示在單獨的表格和報告中。如果指定了多個「按」變量，則會為「按」變數層級的每種可能的組合產生單獨的分析。
Q：穩定性指數如何計算？
答：您可以在這裡找到公式。
Q：您如何描述組內西格瑪和總體西格瑪之間的差異？
A：Within用來計算Cpk，Overall用來計算Ppk。 「內部」是為了考察短期變化，並且基於子組規模，「總體」是著眼於隨著時間的推移而發生的變化。 查看詳情。
問：我如何表明規格限制在某個時間點發生了變化？我是否能夠根據每次有效的限制來評估一段時間內的表現？
答：您可以新增「相」列，並將不同的規格限制與不同的相相關聯。
Q：我相信過程篩選假設每個過程品質特徵都服從常態分佈。例如，我的 117 個進程中有一些是非正常的，我必須篩選所有 117 個進程並在列屬性中分配分佈。正確的？
答：是的。您可以使用標準化屬性來快速做到這一點。
另一種不需要手動篩選的方法是使用製程能力平台根據 117 個品質特性中每一個的最佳擬合分佈來識別和計算 Ppk。您可以使用啟動對話方塊下的「最佳擬合」選項並將其指派給每列，然後按一下「確定」執行分析。在除約翰遜擬合之外的每種情況下，都會使用最大似然來擬合該平台中的可用分佈，並選擇具有最高負對數似然的分佈作為最佳擬合。另一種選擇是使用非參數方法計算一個或多個特徵的 Ppk。如需了解更多信息，請查閱此處的幫助文件。
Q：目標圖上的顏色代表什麼意思？
A：它們與Cpk有關。您可以使用問號圖示（？）在此處查找值，這將帶您進入上下文文檔，您可以在其中找到問題的答案。在這種情況下，它發現：
當您選擇“陰影等級”時，陰影區域會出現在 陰謀。 陰影區域取決於之間的關係 p 和 Ppk，與 p 代表 Ppk 下面的方塊中顯示的值：
–紅色區域中的點 Ppk < p 。
–黃色區域內的點有 p < Ppk < 2 p 。
–綠色區域內的點有 2 p < 峰峰值。
觀看此影片了解如何使用？在使用 JMP 時獲得答案。
之前的會議關於該主題的問答：
Q：什麼是範圍圖？
答：極差圖查看資料的運作範圍。您可以在控制圖產生器選項中將其轉換為標準開發圖表。
Q：如何確定 Cpk 的內西格瑪？
答：Cpk 是一種衡量指標，用來顯示規格限與過程中心的標準差有多少。 Cpk 指數是基於試圖僅捕獲常見原因變化的估計。 Cpk 指數是使用子組內或子組間和子組內的 sigma 估計值來建構的。透過這種方式，他們試圖反映真實的過程標準差。當製程不穩定時，不同的西格瑪估計值可能會有顯著差異。請參閱文件以了解更多詳細資訊。
Q：是否有缺少值代碼的查找表選項？
答：您可以在列屬性中定義多個缺失值代碼。您可以使用“標準化屬性”對多個列執行此操作。您可以使用 JSL 手動建立查找表。
Q：規格限值表中的 LSL、目標和 USL 名稱是否必須相同？例如，如果我有一個包含「下限」、「上限」和「目標」列名稱的規格限製表，這不起作用嗎？
答：Manoints年齡規格限制工具確實需要這些名稱。流程篩選平台則不然。
Q：您能否修改/縮放子組軸以僅顯示最後 50 個批次，以便 IR/MR 圖表中的批次 ID 可讀？
答：是的。只需雙擊軸即可存取軸屬性。或者您可以像使用其他圖表一樣拖曳軸。一種方法是修改第一個圖形的 X 軸，使用“編輯”>“複製軸設定”，然後按住 Control 並使用“編輯”>“貼上軸設定”。
Q：我們可以定義自己的測驗嗎？
答：是的，有一個自訂測試選項。在控制圖產生器中，某些圖表類型的右鍵選單中提供了自訂測試。它使您能夠設計自訂測試並一次選擇或取消選擇多個測試。選擇該選項後，將出現“自訂測試”窗口，用於設計測試。選擇測試描述並輸入所需的編號 (n) 和標籤。您可以將設定儲存到首選項並恢復預設設定。僅適用於變數和屬性圖表類型。請參閱文件以了解更多詳細資訊。
在流程篩選中，選擇測試可讓您選擇要包含在警報率和任何警報的計算中的測試。若要選擇多個測試，請按 Alt 並點擊「流程篩選」紅色小三角以開啟包含所有平台選項的選單。請參閱文件以了解更多詳細資訊。
Customize Tests - Control Chart Builderr自訂測試 - 控製圖產生器
Q：您對使用 Ppk 與 Cpk 有什麼意見嗎？自從幾個版本前標籤發生變化以來，這一直是一個混亂的問題。 JMP 中以前的 Cpk 現在是 Ppk。
A：是的，有點複雜。看看這個。以下是有關差異的更多詳細資訊。
Q：如果不同階段具有獨特的規格，您將如何匯入階段圖表的規格？
答：目前，每個行程只能使用一組規格。您也可以考慮使用流程篩選平台來實現此方法。
Q：如何產生規格限值的控製圖而不計算限值？
答：通常總是計算控制限。規格限制通常根據客戶要求設定。您可以使用列屬性設定控制限。
Q：我注意到您的色譜柱屬性清單中有「檢測極限」選項。那對我來說不可用。為什麼？
答：它是在 JMP Pro 16 中引入的，因此您需要 JMP Pro 版本 16 或更高版本。
Q：JMP 可以幫助我使用歷史資料建立規格限嗎？
答：是的，您可以根據歷史資料擬合分佈，也可以使用互動式能力圖來探索規格限變化的影響。
Interactive Capability Plot互動能力圖
Q：如何為兩個相鄰的流程繪製管制圖？例如，我從 2020 年至今使用流程 A，然後在 2022 年我對流程進行了更改，現在是流程 B。
答：您可以使用「階段」和「階段」列值來做到這一點。以下是使用範例資料中的 Diameter.jmp 的範例，建立一個圖表或單獨的圖表來顯示流程。
Q：控制限和規格限有什麼差別？
答：控制限值用於監控製程的變化，以查看變化是否符合預期。規格限制是關於產品的能力，是由客戶或利害關係人定義的容差等級。
資源：
