答：在本地表中，红色三角形下的本地数据过滤器允许对数据进行子集化，并根据其他列数据（例如数据周期）重新计算指标。如果您按照数据管道的思路思考，JMP 的查询生成器也可以 ping ODBC 兼容数据库并进行相应的过滤。
答：如果您有 JMP Live 并将控制图放在那里，JMP Live 会内置一个警报系统，当有新警报时，它会向您发送电子邮件，然后您可以设置刷新率。刷新率取决于您向控制图中推送的数据量、数据通道数以及所需的处理量。
答：如果您有不同的规格限值，则意味着您的流程中存在 2 个不同的方差水平。一般而言，每列数据处理一个规格限值是首选的历史方法。如果它们具有相同的基础流程但产品不同，则可以使用短期运行控制图。您可以打开“短期控制图”选项，然后选择零件以分配给具有不同控制限值的不同产品，这些产品可能存在于相同的处理能力中。但是，指定此分析非常棘手，并且会给创建 Cpk 和确定控制限值来源带来问题。见下文。
之前现场会议上回答的问题：
问：控制图是否可以在图表本身中显示平均值，就像变异性图表通常显示的那样？
答：是的。当您使用子组时会显示这些。
问：过程能力直方图中的内部和整体有什么区别？
答：当您定义了子组时，within 将显示子组内值。Overall 将是整个数据集的值。Within 用于计算 Cpk，Overall 用于计算 Ppk。Within 用于查看短期变化，基于子组大小，Overall 用于查看随时间的变化。
另一种思考方式是考虑用于计算 Cpk 与 Ppk 的 sigma 值，因为这是这两个统计数据之间的本质区别（它们的数学公式是相同的）。
用于计算 Cpk 的“组内”西格玛估计值实际上是控制图绘制过程中定义的每个子组的西格玛的均方根误差 (RMSE)。对于单值和移动极差 (I-MR) 图，“组内”西格玛估计值是通过考虑每个观测值与其先前观测值之间的相对差异来计算的（这就是我们所说的“MR”）。
用于计算 Ppk 的 sigma 的“总体”估计不考虑子组。相反，它考虑由每个单独数据相对于总体平均值组成的均方根误差。另一种思考方式是，总体估计假设子组大小为 1；标准差是针对整个数据集计算的，将其视为一个整体组（未细分）。
查看统计详情。
问：我总是需要查阅 Cp、Pp、Cpk、Ppk 的指导方针，因为我不经常使用它们。我是否可以将表格中的值按提示进行颜色编码，例如控制图中的红色/黄色/绿色？
答：您可以探索 JMP 的偏好设置（Mac 上为 JMP > 偏好设置，PC 上为文件 > 偏好设置）中的一些选项来进行上下文着色。
问：您认为 IMR 图表与 Xbar-R 或 Xbar-S 之间有什么区别（因为 JMP 根据数据类型区分它们）？
答：IMR 使用个体测量值。R 使用具有变异范围的子组平均值。S 仅使用标准差。
问：从 R 图表切换到 S 图表时建议的子组大小是多少？
答：据我所知没有。这更多的是关于如何量化数据集中的变化。
问：S 图表和 R 图表有什么区别？
答：S = 标准差，R = 范围。另请参阅此处的文档： https 
/www.jmp.com/support/help/en/17.1/#page/jmp/shewhart-control-charts-for-variables.shtml
问：我可以使用控制图生成器绘制 Levey Jennings 控制图吗？
答：是的。这只是对图表属性中 IMR 图表中的变异性方法进行了更改。
问：除了规格限制之外，有没有办法批量加载控制限制？
答：使用“获取限制”方法指定控制限是最灵活的。您应该在以下情况下使用此方法：1) 如果您对许多不同的过程都有控制限 2) 如果您对每个阶段都有不同的控制限（请参阅指定多组控制限）。当然，要使用“获取限制”方法，您需要一个定义历史限制的数据表。 查看详细信息。https /www.jmp.com/support/help/en/17.1/#page/jmp/example-of-control-limits.shtml#ww1831927
问：我可以让 x 轴显示实际日期吗？
答：可以更改显示的格式或使用日期作为 X 值，具体取决于数据的输入方式。
问：我可以设置数据筛选限制来剔除错误的测试数据吗？
答：是的。您可以在控制图上放置本地数据过滤器来实现这一点。
问：您能向我们展示一种导入多个流程的控制限值的方法吗？
答：一般来说，应该计算控制限值。实际上，在列属性中没有办法批量覆盖该值。您可以在 J MP 愿望清单中的管理限值中请求支持。
问：当您进行重复测量时（例如，对一种仪器的性能进行随时间推移评估），可以使用这个平台吗？或者您是否需要使用专门为对同一单元进行重复分析而设计的平台（而不是在不同时间生产的不同单元？我在考虑仪器随着时间的推移变得不那么准确（或不那么精确）的情况。
答：如果您要测量光谱仪的标准参考或类似的东西，则可以使用控制图。CUSUM 图适合查看随时间变化的流程漂移。
问：流程筛选中，分组和group by有什么区别？
答：当您想在分组变量的每个级别组合上分析每个过程变量时，可以使用分组。结果显示在单个报告中。因此，分组使您能够将一个通道拆分为多个子通道。例如，当您有一个数据集，其中有多个工具附加到该数据流时，您可以使用分组将其剪裁出来。（分组）按级别定义单独分析的列。对于指定列的每个级别，使用您指定的其他变量分析相应的行。结果显示在单独的表格和报告中。如果分配了多个按变量，则将对按变量级别的每个可能组合进行单独的分析。
问：稳定性指数如何计算？
答：您可以在这里找到公式。
问：您如何描述 Within Sigma 和 Overall Sigma 之间的差异？
答：Within 用于计算 Cpk，Overall 用于计算 Ppk。Within 用于查看短期变化，基于子组大小，Overall 用于查看随时间的变化。 查看详细信息。
问：我如何表明规格限制在某个时间点发生了变化？我是否能够根据每次生效的限制评估一段时间内的性能？
答：您可以添加“阶段”列，并将不同的规格限制与不同的阶段关联。
问：我认为流程筛选假设每个流程质量特性都具有正态分布。例如，我的 117 个流程中有一些是非正态的，我必须筛选所有 117 个流程并在列属性中分配分布。对吗？
答：是的。您可以使用标准化属性来快速完成此操作。
另一种不需要手动筛选的方法是使用过程能力平台，根据 117 个质量特性中每个特性的最佳拟合分布来识别和计算 Ppk。您可以使用启动对话框下的最佳拟合选项，并将其分配给每一列，然后单击确定以运行分析。在除 Johnson 拟合之外的所有情况下，都会使用最大似然来拟合该平台中的可用分布，并选择具有最高负对数似然的分布作为最佳拟合。另一种选择是使用非参数方法计算一个或多个特性的 Ppk。有关更多信息，请查阅此处的帮助文档。
问：目标图上的颜色代表什么含义？
答：它们与 Cpk 有关。您可以使用问号图标 (?) 在此处查找值，它会将您带到上下文文档，您可以在其中找到问题的答案。在本例中，它发现：
当您选择阴影级别时，阴影区域会出现在 阴谋。 阴影区域取决于 页 和 Ppk， 页 表示 Ppk 下方框中显示的值：
–红色区域中的点的 Ppk < 页。
–黄色区域中的点有 页 < 峰峰值 < 2 p 。
–绿色区域中的点有 2 p < 人均。
观看此视频，了解在使用 JMP 时如何使用？来获取答案。
之前会议中关于此主题的问答：
问：什么是范围图？
答：范围图查看数据的运行范围。您可以在控制图生成器选项中将其转换为标准差图。
问：Cpk 中的组内 Sigma 是如何确定的？
答：Cpk 是一种度量，用于显示规格限值与流程中心之间的标准差。Cpk 指标基于一种估计值，该估计值试图仅捕捉常见原因变异。Cpk 指标是使用子组内或子组间和子组内 sigma 估计值构建的。通过这种方式，它们试图反映真实的流程标准差。当流程不稳定时，不同的 sigma 估计值可能会有显著差异。有关更多详细信息，请参阅文档。
问：是否有缺失值代码的查找表选项？
答：您可以在列属性中定义多个缺失值代码。您可以使用“标准化属性”对多个列执行此操作。您可以使用 JSL 手动创建查找表。
问：规格限值表中的 LSL、目标和 USL 名称是否必须相同。例如，如果我有一个规格限值表，其中的列名称为“下限”、“上限”和“目标”，这是否行不通？
答：Manoints年龄规格限值工具确实需要这些名称。而工艺筛选平台则不需要。
问：您能否修改/缩放子组轴以仅显示最后 50 个批次，以便 IR/MR 图表中的批次 ID 可读？
答：可以。只需双击轴即可访问轴属性。或者，您可以像处理其他图表一样拖动轴。一种方法是修改第一个图表 X 轴，使用“编辑”>“复制轴设置”，然后按住 Control 并使用“编辑”>“粘贴轴设置”。
问：我们可以定义自己的测试吗？
答：是的，有一个自定义测试选项。在控制图生成器中，某些图表类型的右键菜单中提供了“自定义测试”选项。它使您能够设计自定义测试并一次选择或取消选择多个测试。选择该选项后，将出现“自定义测试”窗口以设计测试。选择测试描述并输入所需的数字 (n) 和标签。您可以将设置保存到首选项并恢复默认设置。仅适用于变量和属性图表类型。有关更多详细信息，请参阅文档。
在流程筛选中，选择测试可让您选择要包含在警报率和任何警报计算中的测试。要选择多个测试，请按 Alt 并单击流程筛选红色三角形以打开所有平台选项的菜单。有关更多详细信息，请参阅文档。
Customize Tests - Control Chart Builderr自定义测试 - 控制图生成器
问：您对使用 Ppk 和 Cpk 有什么看法？自从几个版本之前的标签更改以来，这一直是个令人困惑的问题。JMP 中以前的 Cpk 现在变成了 Ppk。
答：是的，有点复杂。看看这个。这里有关于差异的更多细节。
问：如何导入阶段图表中的不同阶段具有独特规格的规格？
答：目前，您只能为每个流程使用一组规范。您也可以考虑使用流程筛选平台来采用这种方法。
问：如何生成具有规格限值的控制图而不计算限值？
答：控制限值通常都会计算出来。规格限值通常根据客户要求设定。您可以使用列属性来设定控制限值。
问：我注意到，在色谱柱属性列表中，有“检测限”选项。但我无法使用该选项。为什么？
答：它是在 JMP Pro 16 中引入的，因此您需要 JMP Pro 16 或更高版本。
问：JMP能帮助我使用历史数据来创建规格限值吗？
答：是的，您可以根据历史数据拟合分布，也可以使用交互式能力图来探索改变规格限值的影响。
Interactive Capability Plot交互能力图
问：如何绘制两个流程的控制图？例如，我从 2020 年至今一直使用流程 A，然后在 2022 年对流程进行了更改，现在是流程 B。我想连续绘制这些图表以显示 Xbar 中的切换。
答：您可以使用“阶段”和“阶段”列值来实现这一点。下面是使用样本数据中的 Diameter.jmp 的示例，创建一个图表或多个单独的图表来显示流程。
问：控制限和规范限有什么区别？
答：控制限度用于监控流程的可变性，以查看变化是否在预期范围内。规格限度与产品的能力有关，是客户或利益相关者定义的容差水平。
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