查看如何：
- 了解如何部署 JMP 的交互式質量和 SPC 功能
- 識別隨時間變化的常規（常見原因）和異常（特殊原因）過程變化
- 衡量一個過程與其給定規格限制相比的執行情況
- 跨時間輕鬆探索大量流程的穩定性和能力指標
- 輕鬆比較過程更改前後的穩定性數據
- 了解使用的基礎知識
- 控製圖生成器
- 製程能力
- 管理規格限制
- 過程篩選
- 帶階段的屬性和變量控製圖
- 帕累托圖
Clovis Weisbart 回答的問題@cweisbart和邁克·安德森@MikeD_Anderson在現場演示期間。
問：控製圖能否在圖表本身中顯示平均值，這與可變性圖表通常採用的方式類似？
答：是的。 當您使用子組時會顯示這些。
問：過程能力直方圖中的組內和總體有什麼區別？
答：當您定義了子組時，將顯示子組內的值。 Overall 將是整個數據集的值。 Within 用於計算 Cpk，Overall 用於計算 Ppk。 Within 用於查看短期變化並基於子組大小，Overall 用於查看隨時間的變化。看統計細節.
問：我總是要查找 Cp、Pp、Cpk、Ppk 的指南，因為我不經常使用它們。 我可以對錶格中的值進行顏色編碼作為提示，例如控製圖中的紅色/黃色/綠色嗎？
答：您可以在 JMP 的首選項（JMP > Mac 上的首選項或文件 > PC 上的首選項）中進行上下文著色。
問：您認為 IMR 圖表與 Xbar-R 或 Xbar-S 之間有什麼區別（因為 JMP 根據數據類型區分它們）？
答：IMR 使用單獨測量。 R 使用具有可變性範圍的子組均值。 S 僅使用標準偏差。
問：從 R-chart 切換到 S-chart 的推薦子組大小是多少？
答：據我所知，沒有一個。它更多地是關於你想如何量化數據集中的變化。
問：S 和 R 圖表有什麼區別？
答：S = 標準偏差，R = 範圍。另請參閱此處的文檔： https://www.jmp.com/support/help/en/17.1/#page/jmp/shewhart-control-charts-for-variables.shtml
問：我可以使用控製圖生成器繪製 Levey Jennings 控製圖嗎？
答：是的。這只是對圖表屬性中 IMR 圖表中可變性方法的更改。
問：除了規範限制之外，還有其他方法可以批量加載控制限制嗎？
A：指定控制限的Get Limits方法是最靈活的。 您應該在以下情況下使用此方法：1) 如果您對許多不同的過程有控制限制 2) 如果您對每個階段有不同的控制限制（請參閱指定多組控制限制）。 當然，要使用 Get Limits 方法，您需要一個定義歷史限制的數據表。 查看具體信息. https://www.jmp.com/support/help/en/17.1/#page/jmp/example-of-control-limits.shtml#ww1831927
問：我可以讓 x 軸顯示實際日期嗎？
答：可以更改顯示格式或使用日期作為 X 值，具體取決於您的數據輸入方式。
問：我可以設置數據篩選限制以剔除錯誤的測試數據嗎？
答：是的。 您可以在控製圖上放置一個本地數據過濾器來執行此操作。
問：我可以使用 JMP 15 加載規格和控制限嗎？
答：是的。 查看具體信息.
問：你能告訴我們一種為許多過程導入控制限的方法嗎？
A：一般來說，應該計算控制限。 沒有真正的方法可以在列屬性中大量覆蓋它。您可以在 J 的管理限制中請求支持國會議員願望清單。
問：當您有重複測量（例如，隨著時間的推移評估其性能的儀器）時，是否可以使用此平台，或者您是否需要使用專門設計用於重複分析同一單元（相對於不同時間生產的不同單元）的平台？我在考慮儀器隨著時間的推移變得不太準確（或不太精確）的情況。
答：如果您測量的是光譜儀的標準參考或類似的東西，您可以使用控製圖。 CUSUM 圖非常適合查看過程隨時間的漂移。
Q：在Process Screening中，grouping和group by有什麼區別？
答：當您希望在分組變量水平的每個組合上分析每個過程變量時，使用分組。 結果顯示在一份報告中。因此，分組使您能夠將一個頻道分解為多個子頻道。 例如，當您有一個數據集附帶多個工具附加到該數據流時，您可以使用分組將其裁剪掉。(Group) By 適用於其級別定義單獨分析的列。對於指定列的每個級別，使用您指定的其他變量分析相應的行。 結果顯示在單獨的表格和報告中。 如果分配了多個 By 變量，將為 By 變量水平的每種可能組合生成單獨的分析。
Q：如何計算穩定指數？
答：你可以找到公式這裡.
問：您如何描述 Within Sigma 和 Overall Sigma 之間的差異？
A：Within用於計算Cpk，Overall用於計算Ppk。 Within 用於查看短期變化並基於子組大小，Overall 用於查看隨時間的變化。查看具體信息.
問；我怎樣才能表明規格限制在某個時間點發生了變化？ 我是否能夠根據每次生效的限制評估隨時間變化的性能？
答：您可以添加一個階段列並將不同的規格限制與不同的階段相關聯。
問：我認為過程篩選假設每個過程質量特徵都服從正態分佈。例如我的 117 個過程中有一些是非正常的，我必須篩選所有 117 個並在列屬性中分配分佈。正確的？
答：是的。 您可以使用標準化屬性來快速做到這一點。
問：目標圖上的顏色是什麼意思？
A: 它們與 Cpk 有關。您可以在此處使用問號圖標 (?) 查找值，這會將您帶到上下文文檔中，您可以在其中找到問題的答案。在這種情況下，它發現：
當您選擇陰影級別時，陰影區域出現在陰謀。陰影區域取決於兩者之間的關係p和 Ppk，與p表示 Ppk 下方框中顯示的值：
–紅色區域的點有 Ppk < p .
–黃色區域的點有p < 峰值 < 2 p .
–綠色區域的點有 2 p < 峰值。
觀看此視頻以了解如何使用？在您使用 JMP 時獲得答案。
前幾屆會議關於該主題的問答：
問：什麼是范圍圖？
A：範圍圖看的是數據的運行範圍。您可以在控製圖生成器選項中將其轉換為標准開發圖。
問：如何確定 Cpk 的組內西格瑪？
答：Cpk 是一種衡量指標，用於顯示規格限距過程中心的標準偏差數。 Cpk 指數基於試圖僅捕獲常見原因變異的估計。 Cpk 指數是使用 sigma 的子組內或子組間和子組內估計值構建的。 通過這種方式，他們試圖反映真實的過程標準偏差。 當過程不穩定時，不同的 sigma 估計值可能會有顯著差異。 見文檔更多細節。
問：是否有缺失值代碼的查找表選項？
答：您可以在列屬性中定義多個缺失值代碼。您可以使用“標準化屬性”對多列執行此操作。您可以使用 JSL 手動創建查找表。
問：LSL、Target 和 USL 的名稱在規格限製表中是否必須相同。 例如，如果我有一個包含“Lower”、“Upper”和“Target”列名稱的規格限表，這會不起作用嗎？
A：馬諾特人age Spec Limits 工具確實需要這些名稱。 過程篩選平台沒有。
問：您能否修改/縮放子組軸以僅顯示最後 50 個批次，以便 IR/MR 圖表中的批次 ID 可讀？
答：是的。只需雙擊軸即可訪問軸屬性。 或者您可以像處理其他圖表一樣拖動軸。 一種方法是修改您的第一個圖形 X 軸，使用“編輯”>“複製軸設置”，然後按住控制鍵並使用“編輯”>“粘貼軸設置”。
問：我們可以定義自己的測試嗎？
答：是的，有一個自定義測試選項。在控製圖生成器中，自定義測試在某些圖表類型的右鍵單擊菜單中可用。 它使您能夠設計自定義測試並一次選擇或取消選擇多個測試。 選擇該選項後，將出現用於設計測試的“自定義測試”窗口。 選擇一個測試描述並輸入所需的數字 (n) 和標籤。 您可以將設置保存到首選項並恢復默認設置。 僅適用於變量和屬性圖表類型。 見文檔更多細節。
在過程篩選中，選擇測試使您能夠選擇要包括在警報率和任何警報計算中的測試。要選擇多個測試，請按 Alt 鍵並點擊“過程篩選”紅色小三角以打開包含所有平台選項的菜單。見文檔更多細節。
Customize Tests - Control Chart Builderr自定義測試 - 控製圖生成器
問：您對使用 Ppk 與 Cpk 有什麼意見嗎？ 自從標籤在幾個版本前更改以來，這一直是一個混亂點。 JMP 中以前的 Cpk 現在是 Ppk。
A：是的，有點複雜。 看一下這.這裡有更多細節關於差異。
問：如何為不同階段具有獨特規格的階段圖表導入規格？
答：目前，每個進程只能使用一組規範。
問：如何生成具有規格限制但不計算限制的控製圖？
答：通常總是計算控制限。規格限制通常根據客戶要求設置。您可以使用列屬性設置控制限。
問：我注意到在您的列屬性列表中有“檢測限”選項。那對我來說不可用。為什麼？
答：它是在 JMP Pro 16 中引入的，因此您需要 JMP Pro 版本 16 或更高版本。
問：JMP 能否幫助我使用歷史數據創建規格限？
答：是的，您可以將分佈擬合到歷史數據，還可以使用交互式能力圖來探索不斷變化的規格限的影響。
Interactive Capability Plot交互式能力圖
問：如何為兩個過程繪製彼此相鄰的控製圖？ 例如，我從 2020 年至今一直在使用流程 A，然後在 2022 年我對流程進行了更改，現在是流程 B。 我想連續繪製這些以顯示 Xbar 中的開關。
答：您可以使用階段和階段列值來做到這一點。下面是一個使用樣本數據中的 Diameter.jmp 的示例，創建一個圖表或單獨的圖表來顯示過程。
問：控制限和規格限之間有什麼區別？
答：控制限度用於監控過程的可變性，以查看是否存在預期變化。 規格限制與產品的能力有關，是客戶或利益相關者定義的公差水平。
資源：
