다음 방법을 참조하십시오.
- JMP의 대화형 품질 및 SPC 기능을 배포하는 방법 알아보기
- 시간 경과에 따른 일상적인(일반 원인) 및 비정상(특수 원인) 공정 변동 식별
- 주어진 사양 한계와 비교하여 프로세스가 얼마나 잘 수행되고 있는지 측정
- 시간이 지남에 따라 많은 수의 프로세스에 대한 안정성 및 기능 메트릭을 쉽게 탐색
- 공정 변경 전후의 안정성 데이터를 쉽게 비교
- 기본 사용법 익히기
- 컨트롤 차트 빌더
- 공정 능력
- 사양 제한 관리
- 프로세스 스크리닝
- 단계가 있는 속성 및 변수 관리도
- 파레토 플롯
Clovis Weisbart가 답변한 질문 @cweisbart 그리고 마이크 앤더슨 @MikeD_앤더슨 라이브 데모 중.
Q: 컨트롤 차트는 일반적으로 가변성 차트와 유사한 방식으로 차트 자체에 평균을 표시할 수 있습니까?
답: 예. 하위 그룹을 사용할 때 표시됩니다.
Q: 공정 능력 히스토그램에서 내부와 전체의 차이점은 무엇입니까?
A: 하위 그룹을 정의하면 하위 그룹 내 값이 표시됩니다. 전체는 전체 데이터 세트의 값입니다. 이내는 Cpk를 계산하는 데 사용되고 전체는 Ppk를 계산하는 데 사용됩니다. 이내는 단기 변동을 보기 위한 것이고 하위 그룹 크기를 기반으로 하며 전체는 시간 경과에 따른 변동을 봅니다.보다 통계 세부 사항 .
Q: Cp, Pp, Cpk, Ppk를 정기적으로 사용하지 않기 때문에 항상 가이드라인을 찾아봐야 합니다. 컨트롤 차트의 빨간색/노란색/녹색과 같이 테이블의 값을 프롬프트로 색상 코드화할 수 있습니까?
A: 탐색할 수 있는 JMP의 기본 설정(Mac의 경우 JMP > 기본 설정 또는 PC의 파일 > 기본 설정)에서 상황에 맞는 색상을 지정할 수 있는 몇 가지 옵션이 있습니다.
Q: IMR 차트와 Xbar-R 또는 Xbar-S의 차이점은 무엇입니까(JMP는 데이터 유형에 따라 구분하므로)?
A: IMR은 개별 측정을 사용합니다. R은 변동 범위가 있는 부분군 평균을 사용합니다. S는 표준 편차를 사용합니다.
Q: R-차트에서 S-차트로 전환하기 위해 권장되는 부분군 크기는 얼마입니까?
A: 제가 아는 것은 없습니다.데이터 세트의 변동을 정량화하는 방법에 대한 자세한 내용입니다.
Q: S 차트와 R 차트의 차이점은 무엇입니까?
A: S = 표준 편차, R = 범위.다음 문서도 참조하십시오. https://www.jmp.com/support/help/en/17.1/#page/jmp/shewhart-control-charts-for-variables.shtml
Q: 컨트롤 차트 빌더를 사용하여 Levey Jennings 컨트롤 차트를 그릴 수 있습니까?
답: 예.차트 속성에서 IMR 차트의 가변성 방법을 변경한 것일 뿐입니다.
Q: 사양 제한 외에도 대량 부하 제어 제한을 적용할 수 있는 방법이 있습니까?
A: 제어 한계를 지정하는 Get Limits 방법이 가장 유연합니다. 다음과 같은 경우에 이 방법을 사용해야 합니다. 1) 여러 다른 프로세스에 대한 제어 한계가 있는 경우 2) 각 단계에 대해 서로 다른 제어 한계가 있는 경우(여러 제어 한계 세트 지정 참조). 물론 제한 가져오기 방법을 사용하려면 과거 제한을 정의하는 데이터 테이블이 필요합니다. 자세히보다 . https://www.jmp.com/support/help/en/17.1/#page/jmp/example-of-control-limits.shtml#ww1831927
Q: X축에 실제 날짜를 표시할 수 있습니까?
A: 데이터가 들어오는 방식에 따라 표시된 형식을 변경하거나 날짜를 X 값으로 사용할 수 있습니다.
Q: 잘못된 테스트 데이터를 버리도록 데이터 화면 제한을 설정할 수 있습니까?
답: 예. 이를 위해 컨트롤 차트에 로컬 데이터 필터를 배치할 수 있습니다.
Q: JMP 15를 사용하여 사양을 로드하고 한계를 제어할 수 있습니까?
답: 예. 자세히보다 .
Q: 많은 프로세스에 대한 제어 한계를 가져오는 방법을 보여줄 수 있습니까?
A: 일반적으로 제어 한계를 계산해야 합니다. 열 속성에서 대량 재정의하는 방법은 실제로 없습니다.J의 제한 관리에서 이에 대한 지원을 요청할 수 있습니다. MP 위시리스트.
Q: 반복 측정(예: 시간 경과에 따라 성능이 평가되는 기기)이 있는 경우 이 플랫폼을 사용할 수 있습니까, 아니면 동일한 단위(다른 시간에 생산된 다른 단위와 비교)의 반복 분석을 위해 특별히 설계된 플랫폼을 사용해야 합니까? ?시간이 지남에 따라 기기가 덜 정확해지는(또는 덜 정밀해지는) 상황에 대해 생각하고 있습니다.
A: 분광계 등의 표준 참조와 같은 것을 측정하는 경우 관리 차트를 사용할 수 있습니다. CUSUM 차트는 시간 경과에 따른 프로세스 드리프트를 보는 데 유용합니다.
Q: Process Screening에서 그룹화와 "그룹화 기준"의 차이점은 무엇입니까?
A: 그룹화는 그룹화 변수의 각 수준 조합에서 각 프로세스 변수를 분석하려는 경우에 사용됩니다. 결과는 단일 보고서로 제공됩니다.따라서 그룹화는 채널을 여러 하위 채널로 나눌 수 있는 기능을 제공합니다. 예를 들어, 하나의 데이터 스트림에 여러 도구가 연결된 하나의 데이터 세트가 있는 경우 그룹화를 사용하여 잘라낼 수 있습니다.(그룹) 기준은 수준이 별도의 분석을 정의하는 열용입니다.지정된 열의 각 수준에 대해 해당 행은 지정한 다른 변수를 사용하여 분석됩니다. 결과는 별도의 표와 보고서로 제공됩니다. 둘 이상의 기준 변수가 할당된 경우 기준 변수 수준의 가능한 각 조합에 대해 별도의 분석이 생성됩니다.
Q: 안정성 지수는 어떻게 계산합니까?
A: 공식을 찾을 수 있습니다. 여기 .
Q: 내부 시그마와 전체 시그마의 차이를 어떻게 설명합니까?
A: 이내는 Cpk를 계산하는 데 사용되고 전체는 Ppk를 계산하는 데 사용됩니다. 이내는 단기 변동을 보기 위한 것이고 하위 그룹 크기를 기반으로 하며 전체는 시간 경과에 따른 변동을 봅니다.자세히보다 .
큐; 사양 제한이 특정 시점에 변경되었음을 어떻게 나타낼 수 있습니까? 매번 적용되는 한도와 관련하여 시간 경과에 따라 성능을 평가할 수 있습니까?
A: 단계 열을 추가하고 다른 사양 제한을 다른 단계와 연결할 수 있습니다.
Q: 프로세스 스크리닝은 각 프로세스 품질 특성이 정규 분포를 갖는다고 가정합니다.예를 들어 117개 중 일부 프로세스가 비정상적이므로 117개를 모두 선별하고 열 속성에 분포를 할당해야 합니다.오른쪽?
답: 예. 표준화 속성을 사용하면 이를 신속하게 수행할 수 있습니다.
Q: Goal Plot의 색상은 무엇을 의미합니까?
A: 그들은 Cpk와 관련이 있습니다.여기에서 물음표 아이콘(?)을 사용하여 값을 찾을 수 있습니다. 그러면 질문에 대한 답변을 찾을 수 있는 상황별 문서로 이동합니다.이 경우 다음을 찾았습니다.
음영 수준을 선택하면 음영 영역이 구성.음영 영역은 다음 사이의 관계에 따라 다릅니다. 피 및 Ppk, 피 Ppk 아래의 상자에 표시된 값을 나타냅니다.
– 빨간색 영역의 포인트는 Ppk < 피 .
– 노란색 영역의 포인트는 피 < Ppk < 2 피 .
– 녹색 영역의 포인트는 2개입니다. 피 < 박.
?를 사용하는 방법을 보려면 이 비디오를 참조하십시오. JMP를 사용할 때 답을 얻으려면
이 주제에 대한 이전 세션의 Q&A:
Q: 범위 차트란 무엇입니까?
A: 범위 차트는 데이터의 실행 범위를 확인합니다.컨트롤 차트 빌더 옵션에서 표준 개발 차트로 변환할 수 있습니다.
Q: Cpk에 대한 내 시그마는 어떻게 결정됩니까?
A: Cpk는 사양 한계가 프로세스의 중심에서 얼마나 많은 표준 편차가 있는지를 나타내는 척도입니다. Cpk 지수는 공통 원인 변동만 포착하려는 추정치를 기반으로 합니다. Cpk 지수는 시그마의 하위 그룹 내 또는 하위 그룹 간 및 하위 그룹 내 추정치를 사용하여 구성됩니다. 이러한 방식으로 실제 프로세스 표준 편차를 반영하려고 시도합니다. 프로세스가 안정적이지 않으면 시그마의 다른 추정치가 크게 다를 수 있습니다. 참조 선적 서류 비치 상세 사항은.
Q: 누락된 값 코드에 대한 조회 테이블 옵션이 있습니까?
A: 열 속성에서 여러 결측값 코드를 정의할 수 있습니다."특성 표준화"를 사용하여 여러 열에 대해 이 작업을 수행할 수 있습니다. JSL을 사용하여 조회 테이블을 수동으로 만들 수 있습니다.
Q: 사양 제한 테이블에서 LSL, Target 및 USL의 이름이 동일해야 합니까? 예를 들어 "Lower", "Upper" 및 "Target" 열 이름이 있는 사양 제한 테이블이 있는 경우 이것이 작동하지 않습니까?
A: 마노인츠 연령 사양 제한 도구는 이러한 이름을 예상합니다. 프로세스 스크리닝 플랫폼은 그렇지 않습니다.
Q: IR/MR 차트의 로트 ID를 읽을 수 있도록 마지막 50개의 로트만 표시하도록 하위 그룹 축을 수정/확대할 수 있습니까?
답: 예.축 속성에 액세스하려면 축을 두 번 클릭하기만 하면 됩니다. 또는 다른 차트와 마찬가지로 축을 드래그할 수 있습니다. 이를 수행하는 한 가지 방법은 첫 번째 그래프 X축을 수정하고 편집 > 축 설정 복사를 사용한 다음 컨트롤을 누른 상태에서 편집 > 축 설정 붙여넣기를 사용하는 것입니다.
Q: 자체 테스트를 정의할 수 있습니까?
A: 예, 맞춤형 테스트 옵션이 있습니다.컨트롤 차트 작성기에서 테스트 사용자 지정은 일부 차트 유형의 오른쪽 클릭 메뉴에서 사용할 수 있습니다. 사용자 지정 테스트를 설계하고 한 번에 여러 테스트를 선택하거나 선택 취소할 수 있습니다. 옵션을 선택하면 테스트 설계를 위한 테스트 사용자 지정 창이 나타납니다. 테스트 설명을 선택하고 원하는 숫자(n)와 레이블을 입력합니다. 설정을 기본 설정에 저장하고 기본 설정을 복원할 수 있습니다. 변수 및 속성 차트 유형에만 사용할 수 있습니다. 참조 선적 서류 비치 상세 사항은.
프로세스 스크리닝에서 테스트 선택을 사용하면 알람 비율 및 모든 알람 계산에 포함할 테스트를 선택할 수 있습니다.여러 테스트를 선택하려면 Alt 키를 누르고 Process Screening 빨간색 삼각형을 클릭하여 모든 플랫폼 옵션의 메뉴를 엽니다.참조 선적 서류 비치 상세 사항은.
Customize Tests - Control Chart Builderr테스트 사용자 지정 - 컨트롤 차트 빌더
Q: Ppk vs Cpk 사용에 대한 의견이 있으신가요? 라벨링이 몇 버전 전에 변경된 이후로 그것은 혼란의 지점이었습니다. JMP에서 Cpk였던 것이 이제는 Ppk입니다.
A: 네, 조금 복잡합니다. 한번 보세요 이것 .여기 더 있습니다 세부 차이점에.
Q: 서로 다른 단계에 고유한 사양이 있는 단계적 차트의 사양을 어떻게 가져오나요?
A: 현재 프로세스당 하나의 사양 세트만 사용할 수 있습니다.
Q: 사양 제한이 있는 관리 차트를 생성하고 제한을 계산하지 않으려면 어떻게 해야 합니까?
A: 제어 한계는 일반적으로 항상 계산됩니다.사양 제한은 일반적으로 고객 요구 사항에 따라 설정됩니다.열 속성을 사용하여 제어 한계를 설정할 수 있습니다.
Q: 열 속성 목록에 "탐지 제한" 옵션이 있는 것을 확인했습니다.그것은 나를 위해 사용할 수 없습니다.왜?
A: JMP Pro 16에서 도입되었으므로 JMP Pro 버전 16 이상이 필요합니다.
Q: 과거 데이터를 사용하여 규격 한계를 생성하는 데 JMP가 도움이 됩니까?
A: 예, 분포를 기록 데이터에 맞출 수 있으며 대화형 기능 도표를 사용하여 사양 제한 변경의 영향을 탐색할 수도 있습니다.
Interactive Capability Plot대화형 능력 도표
Q: 서로 바로 옆에 있는 두 프로세스에 대한 컨트롤 차트를 어떻게 그릴 수 있습니까? 예를 들어 2020년부터 지금까지 프로세스 A를 사용하다가 2022년에 프로세스를 변경했는데 지금은 프로세스 B입니다. Xbar에서 스위치를 표시하기 위해 이것을 연속적으로 플롯하고 싶습니다.
A: 단계 및 단계 열 값을 사용하여 이를 수행할 수 있습니다.다음은 샘플 데이터에서 Diameter.jmp를 사용하여 하나의 차트 또는 별도의 차트를 만들어 프로세스를 보여주는 예입니다.
Q: 제어 한계와 사양 한계의 차이점은 무엇입니까?
A: 제어 한계는 공정의 변동성을 모니터링하여 변동이 예상되는지 확인하기 위해 존재합니다. 사양 한계는 제품의 기능에 관한 것이며 고객 또는 이해 관계자가 정의한 허용 오차 수준입니다.
자원:
