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JMP 在线上控制图异常之下的侦测及优化改善运用_Applied Materials

演讲嘉宾：Ivan Chang，应用材料台湾分公司，资深制程支持工程师

演讲主题：JMP 在线上控制图异常之下的侦测及优化改善运用

演讲摘要：

线上控制图是工厂用来侦测产品规格是否在可接受范围内的工具，当产品规格超出标准控制线之外，工厂需要立即检测产线上的制程状况，并且采取紧急措施将产品的报废量降到最低。此次演讲的案例背景为中国大陆某一客户在 CIS产品上的线上控制图发生了两周内侦测值超过控制线标准导致设备需要停止生产并做相关的清洁动作。然而，每一次的清洁流程都将造成工厂高成本的支出，如何降低此种问题发生频率是此次演讲针对的部分。

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