Haut-parleurs : Hans Hsu, Matériaux appliqués, Ingénieur procédés CVD
le sujet du discours : Application de l'analyse R&R JMP Gage dans la fabrication de panneaux pour les machines d'inspection de particules
discours abstrait :
Dans le processus de fabrication des panneaux, nous utilisons des machines d'inspection optique AOI pour analyser le nombre de particules micrométriques présentes sur un morceau de verre, mais il est difficile d'évaluer s'il y a des erreurs de jugement ou des jugements manqués. Habituellement, cela est confirmé manuellement en prenant des photos. S'il y a vraiment une particule dans la position scannée, mais le nombre de photos pouvant être prises est loin de couvrir la surface de la totalité du verre. En statistique, le Gage R&R conventionnel est généralement utilisé pour l'analyse quantitative des valeurs numériques des propriétés physiques. Mais l'existence de particules est la différence entre 0 et 1, et il n'y a aucun moyen de faire une analyse quantitative. Par conséquent, ce discours traite principalement de la manière d'analyser quantitativement le Gage R&R de la machine d'inspection des particules.
