如果管理規格限制實用程序允許您更改的不僅僅是規格限制？ 關於什麼檢出限、公差值、西格瑪等？ 你很幸運！為了JMP 17 ，管理規格限制實用程序已重命名為管理限制。 添加了新功能，允許一個入口點同時更改許多不同的列屬性或創建一個可由多個平台使用的完整限製表。
組織
Manage Limits 報告中現在有四個不同的部分（大綱節點），而不是單個大綱節點：Spec Limits、Process Screening、MSA 和 Detection Limits。 要查看此內容，請運行以下命令：
dt=Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");
obj=dt<<MANAGE limits=""></MANAGE>
規格限制
報表的規格限部分在外觀和行為上與您在以前版本的 JMP 中找到的管理規格限報表相同。 規格限可用於繪製響應的任何圖形（選中“顯示為圖形參考線”時）。規格限制還可能在某些平台中提供額外的統計/分析，例如控製圖生成器/控製圖、過程能力、分佈和過程篩選等。 有關規範限制如何影響過程能力的示例，請閱讀博客文章將規格限制載入過程能力的 3 種方法.
過程篩選
報告的過程篩選部分是新的。 它允許用戶為過程篩選平台定義中心線、指定西格瑪和測量西格瑪。 中心線是過程控製圖的中心（通常是歷史過程平均值）。 Specified Sigma 是標準差範圍內的過程，用於計算控制限（通常是歷史過程標準差）。 測量西格瑪是測量系統的變化。 此數據表（半導體能力）沒有工藝篩選列屬性，因此不會自動填充任何內容。 對於 NPN1，為中心線輸入 115。 為指定西格瑪輸入 2.5。 為測量 Sigma 輸入 2.8。
此時，您可以從對話框底部的三個按鈕中選擇保存到列屬性或限制數據表。要了解如何在過程篩選中使用這些值，請閱讀JMP 17 過程篩選的新功能。
海事局
報告的 MSA 部分也是新的。 它允許您輸入公差值/公差範圍、參考、分辨率、歷史平均值和歷史過程西格瑪。運行以下命令：
dt=Open("$SAMPLE_DATA/Variability Data/Type 1 Gauge MSA.jmp");
obj=dt<<MANAGE limits=""></MANAGE>
請注意，已為管理限制實用程序的 MSA 部分填寫了一些信息。 此信息來自 Y1、Y2 和 Y3 的 MSA 列屬性。 （您可以在數據表中查看這些列屬性。）下限和上限公差值定義了可接受的操作範圍。 公差範圍定義為上限公差 – 下限公差（Y1 為 51.014-49.014 = 2）。 使用單選按鈕在公差範圍或上下公差之間進行選擇。 參考是測量標準的已知值（對於 Y1，參考 = 50.014）。 分辨率是儀表的測量分辨率（Y1 為 0.001）。 歷史均值是過程的已知均值。 歷史過程 sigma 是過程的已知標準偏差。 請注意，並非所有字段都需要輸入才能使用報告的這一部分或列屬性。 MSA 列屬性由測量系統分析、類型 1 量具分析和變異性量具圖使用。 要查看類型 1 量具分析如何使用此列屬性的示例，請參閱類型 1 儀表分析.
檢測限
Manage Limits 報告的最後一個新部分是 Detection Limits。例如，運行以下命令：
dt=Open("$SAMPLE_DATA/Design Experiment/Metacrate Limit of Detection DOE.jmp");
obj=dt<<MANAGE limits=""></MANAGE>
報告的檢測限部分打開並填寫。 此信息來自 Metacrate 的檢測限制列屬性。 該屬性定義了無法測量響應的界限。 您可以使用此屬性指定刪失響應。 分佈和廣義回歸使用檢測限。 要查看此列屬性如何影響分佈，請閱讀JMP 17 分佈的新特徵.
結論
通過將 Manage Spec Limits 實用程序重命名為 Manage Limits，JMP 提供了一個通用實用程序，允許用戶一次更改/創建多個列屬性或創建更完整的限值表。 除了規範限制之外，該實用程序現在還可以處理過程篩選屬性、MSA 屬性和檢測限。
