사양 한계 관리 유틸리티에서 사양 한계뿐만 아니라 검출 한계 , 허용 오차, 시그마 값 등도 변경할 수 있다면 얼마나 좋을까요? 이제 가능합니다! JMP 17 에서는 사양 한계 관리 유틸리티의 이름이 '한계 관리'로 변경되었습니다. 새로운 기능이 추가되어 하나의 진입점에서 여러 열 속성을 한 번에 변경하거나 여러 플랫폼에서 사용할 수 있는 전체 한계 테이블을 만들 수 있습니다.
조직
이제 관리 한계 보고서에는 단일 개요 노드 대신 사양 한계, 공정 스크리닝, MSA 및 검출 한계의 네 가지 섹션(개요 노드)이 있습니다. 이를 확인하려면 다음 명령을 실행하십시오.
dt=Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");
obj=dt<
<MANAGE limits=""></MANAGE>
<P><SPAN class="lia-inline-image-display-wrapper lia-image-align-center" image-alt="MLa.png" style="width: 736px;"><span class="lia-inline-image-display-wrapper" image-alt="MLa.png" style="width: 736px;"><img src="https://us.v-cdn.net/6038925/uploads/images/44514iF7A3BB919163FDF4/MLa.png" role="button" title="MLa.png" alt="MLa.png" /></span></SPAN></P> <BR /> <H3 id="toc-hId--1016082610" id="toc-hId--986648195"><STRONG>사양 한계</STRONG></H3> <P>보고서의 규격 한계 섹션은 이전 버전의 JMP에서 볼 수 있었던 규격 한계 관리 보고서와 모양과 기능이 동일합니다. 규격 한계는 "그래프 참조선으로 표시" 옵션이 선택된 경우 응답을 나타내는 모든 그래프에 사용할 수 있습니다. 또한 규격 한계는 관리도 작성기/관리도, 공정 능력, 분포, 공정 스크리닝 등 특정 플랫폼에서 추가 통계/분석 정보를 제공할 수 있습니다. 규격 한계가 공정 능력에 미치는 영향에 대한 예시는 블로그 게시물 <A href="https://community.jmp.com/t5/JMPer-Cable/3-ways-to-load-your-specification-limits-into-Process-Capability/ba-p/34189" target="_self">"공정 능력에 규격 한계를 입력하는 3가지 방법"을</A> 참조하십시오.<BR /><BR /></P> <H3 id="toc-hId-726727725" id="toc-hId-756162140"><STRONG>프로세스 스크리닝</STRONG></H3> <P>보고서의 프로세스 스크리닝 섹션이 새로 추가되었습니다. 이 섹션에서는 사용자가 프로세스 스크리닝 플랫폼에 대한 중심선, 지정 시그마 및 측정 시그마를 정의할 수 있습니다. 중심선은 프로세스 관리 차트의 중심(일반적으로 과거 프로세스 평균)입니다. 지정 시그마는 관리 한계를 계산하는 데 사용되는 프로세스 표준 편차 범위(일반적으로 과거 프로세스 표준 편차)입니다. 측정 시그마는 측정 시스템의 변동입니다. 이 데이터 테이블(반도체 성능)에는 프로세스 스크리닝 열 속성이 없으므로 자동으로 채워지는 항목이 없습니다. NPN1의 경우 중심선에 115를 입력하고, 지정 시그마에 2.5를 입력하고, 측정 시그마에 2.8을 입력하십시오.</P> <P><SPAN class="lia-inline-image-display-wrapper lia-image-align-center" image-alt="mlps.png" style="width: 459px;"><span class="lia-inline-image-display-wrapper" image-alt="mlps.png" style="width: 459px;"><img src="https://us.v-cdn.net/6038925/uploads/images/44515i80928B12BEBEF55B/mlps.png" role="button" title="mlps.png" alt="mlps.png" /></span></SPAN></P> <P>이 단계에서는 대화 상자 하단의 세 가지 버튼 중 하나를 선택하여 열 속성 또는 제한 데이터 테이블에 저장할 수 있습니다. 이러한 값이 프로세스 스크리닝에서 어떻게 사용되는지 알아보려면 <A href="https://community.jmp.com/t5/blogs/blogworkflowpage/blog-id/jmper-cable/article-id/751?prePageCrumb=BlogUserContributedArticlesPage" target="_self">JMP 17의 프로세스 스크리닝 새 기능 문서를 참조하십시오.</A></P> <BR /> <H3 id="toc-hId--1825429236" id="toc-hId--1795994821"><STRONG>MSA</STRONG></H3> <P>보고서의 MSA 섹션도 새로 추가되었습니다. 이 섹션에서는 허용 오차 값/허용 오차 범위, 기준값, 분해능, 과거 평균값 및 과거 공정 시그마 값을 입력할 수 있습니다. 다음 명령을 실행하십시오.</P> <CODE class=" language-jsl">dt=Open("$SAMPLE_DATA/Variability Data/Type 1 Gauge MSA.jmp");
obj=dt<
<MANAGE limits=""></MANAGE> <P><SPAN class="lia-inline-image-display-wrapper lia-image-align-center" image-alt="ml2.png" style="width: 730px;"><span class="lia-inline-image-display-wrapper" image-alt="ml2.png" style="width: 730px;"><img src="https://us.v-cdn.net/6038925/uploads/images/44516i597A1187D502E770/ml2.png" role="button" title="ml2.png" alt="ml2.png" /></span></SPAN></P> <BR /> <P>한계 관리 유틸리티의 MSA 섹션에 일부 정보가 입력되어 있음을 확인하십시오. 이 정보는 Y1, Y2 및 Y3의 MSA 열 속성에서 가져옵니다. (이러한 열 속성은 데이터 테이블에서 볼 수 있습니다.) 하한 및 상한 허용 오차 값은 허용 가능한 작동 범위를 정의합니다. 허용 오차 범위는 상한 허용 오차 - 하한 허용 오차로 정의됩니다(Y1의 경우 51.014 - 49.014 = 2). 라디오 버튼을 사용하여 허용 오차 범위 또는 하한 및 상한 허용 오차 중에서 선택하십시오. 기준값은 측정 표준의 알려진 값입니다(Y1의 경우 기준값 = 50.014). 분해능은 게이지의 측정 분해능입니다(Y1의 경우 0.001). 과거 평균은 프로세스의 알려진 평균입니다. 과거 프로세스 시그마는 프로세스의 알려진 표준 편차입니다. 보고서의 이 섹션 또는 열 속성을 사용하기 위해 모든 필드를 입력할 필요는 없습니다. MSA 열 속성은 측정 시스템 분석, 유형 1 게이지 분석 및 변동성 게이지 차트에서 사용됩니다. 유형 1 게이지 분석에서 이 열 속성이 어떻게 사용되는지 예시를 보려면 <A href="https://community.jmp.com/t5/blogs/blogworkflowpage/blog-id/jmper-cable/article-id/767?prePageCrumb=BlogDashboardPage" target="_self">유형 1 게이지 분석을</A> 참조하십시오.</P> <H3 id="toc-hId--82618901" id="toc-hId--53184486"><STRONG><BR />검출 한계</STRONG></H3> <P>관리 제한 보고서의 마지막 새 섹션은 탐지 제한입니다. 예를 들어 다음을 실행해 보세요.</P> <CODE class=" language-jsl">dt=Open("$SAMPLE_DATA/Design Experiment/Metacrate Limit of Detection DOE.jmp");
obj=dt<
<MANAGE limits=""></MANAGE> <P><SPAN class="lia-inline-image-display-wrapper lia-image-align-center" image-alt="ML3.png" style="width: 404px;"><span class="lia-inline-image-display-wrapper" image-alt="ML3.png" style="width: 404px;"><img src="https://us.v-cdn.net/6038925/uploads/images/44517i74D955939FE0A231/ML3.png" role="button" title="ML3.png" alt="ML3.png" /></span></SPAN></P> <P>보고서의 검출 한계 섹션이 열리고 정보가 입력됩니다. 이 정보는 Metacrate의 검출 한계 열 속성에서 가져온 것입니다. 이 속성은 응답을 측정할 수 없는 범위를 정의합니다. 이 속성을 사용하여 검열된 응답을 지정할 수 있습니다. 검출 한계는 분포 분석 및 일반화 회귀 분석에서 사용됩니다. 이 열 속성이 분포 분석에 미치는 영향에 대한 자세한 내용은 <A href="https://community.jmp.com/t5/blogs/blogworkflowpage/blog-id/jmper-cable/article-id/758?prePageCrumb=BlogDashboardPage" target="_self">JMP 17의 분포 분석 새 기능 문서를</A> 참조하십시오.</P> <H3 id="toc-hId-1660191434" id="toc-hId-1689625849"><STRONG><BR />결론</STRONG></H3> <P>JMP는 '사양 한계 관리' 유틸리티의 이름을 '한도 관리'로 변경하여 사용자가 여러 열 속성을 한 번에 변경/생성하거나 보다 완벽한 한계 테이블을 만들 수 있는 범용 유틸리티를 제공합니다. 이제 이 유틸리티는 사양 한계 외에도 공정 스크리닝 속성, MSA 속성 및 검출 한계를 처리할 수 있습니다.</P>
