如果管理规格限制实用程序允许您更改的不仅仅是规格限制？ 关于什么检出限、公差值、西格玛等？ 你很幸运！为了JMP 17 ，管理规格限制实用程序已重命名为管理限制。 添加了新功能，允许一个入口点同时更改许多不同的列属性或创建一个可由多个平台使用的完整限制表。
组织
Manage Limits 报告中现在有四个不同的部分（大纲节点），而不是单个大纲节点：Spec Limits、Process Screening、MSA 和 Detection Limits。 要查看此内容，请运行以下命令：
dt=Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");
obj=dt<<MANAGE limits=""></MANAGE>
规格限制
报表的规格限部分在外观和行为上与您在以前版本的 JMP 中找到的管理规格限报表相同。 规格限可用于绘制响应的任何图形（选中“显示为图形参考线”时）。规格限制还可能在某些平台中提供额外的统计/分析，例如控制图生成器/控制图、过程能力、分布和过程筛选等。 有关规范限制如何影响过程能力的示例，请阅读博客文章将规格限制载入过程能力的 3 种方法.
过程筛选
报告的过程筛选部分是新的。 它允许用户为过程筛选平台定义中心线、指定西格玛和测量西格玛。 中心线是过程控制图的中心（通常是历史过程平均值）。 Specified Sigma 是标准差范围内的过程，用于计算控制限（通常是历史过程标准差）。 测量西格玛是测量系统的变化。 此数据表（半导体能力）没有工艺筛选列属性，因此不会自动填充任何内容。 对于 NPN1，为中心线输入 115。 为指定西格玛输入 2.5。 为测量 Sigma 输入 2.8。
此时，您可以从对话框底部的三个按钮中选择保存到列属性或限制数据表。要了解如何在过程筛选中使用这些值，请阅读JMP 17 过程筛选的新功能。
海事局
报告的 MSA 部分也是新的。 它允许您输入公差值/公差范围、参考、分辨率、历史平均值和历史过程西格玛。运行以下命令：
dt=Open("$SAMPLE_DATA/Variability Data/Type 1 Gauge MSA.jmp");
obj=dt<<MANAGE limits=""></MANAGE>
请注意，已为管理限制实用程序的 MSA 部分填写了一些信息。 此信息来自 Y1、Y2 和 Y3 的 MSA 列属性。 （您可以在数据表中查看这些列属性。）下限和上限公差值定义了可接受的操作范围。 公差范围定义为上限公差 – 下限公差（Y1 为 51.014-49.014 = 2）。 使用单选按钮在公差范围或上下公差之间进行选择。 参考是测量标准的已知值（对于 Y1，参考 = 50.014）。 分辨率是仪表的测量分辨率（Y1 为 0.001）。 历史均值是过程的已知均值。 历史过程 sigma 是过程的已知标准偏差。 请注意，并非所有字段都需要输入才能使用报告的这一部分或列属性。 MSA 列属性由测量系统分析、类型 1 量具分析和变异性量具图使用。 要查看类型 1 量具分析如何使用此列属性的示例，请参阅类型 1 仪表分析.
检测限
Manage Limits 报告的最后一个新部分是 Detection Limits。例如，运行以下命令：
dt=Open("$SAMPLE_DATA/Design Experiment/Metacrate Limit of Detection DOE.jmp");
obj=dt<<MANAGE limits=""></MANAGE>
报告的检测限部分打开并填写。 此信息来自 Metacrate 的检测限制列属性。 该属性定义了无法测量响应的界限。 您可以使用此属性来指定删失响应。 分布和广义回归使用检测限。 要查看此列属性如何影响分布，请阅读JMP 17 分布的新特征.
结论
通过将 Manage Spec Limits 实用程序重命名为 Manage Limits，JMP 提供了一个通用实用程序，允许用户一次更改/创建多个列属性或创建更完整的限值表。 除了规范限制之外，该实用程序现在还可以处理过程筛选属性、MSA 属性和检测限。
