JMP 17 bringt einige wichtige Änderungen mit sich Prozessscreening Plattform. Wenn Sie Process Screening in JMP 17 verwenden, werden Sie feststellen, dass sich die Menüs geändert haben. Die Prozessüberprüfung ist nicht mehr im Menü „Überprüfung“ enthalten. Es wurde in das Menü „Qualität und Prozess“ verschoben. Darüber hinaus haben sich die Menüoptionen des roten Dreiecks für die Prozessüberprüfung geändert.
New commands are circled in red. Renamed commands are connected with a line.New commands are circled in red. Renamed commands are connected with a line.New commands are circled in red. Renamed commands are connected with a line.New commands are circled in red. Renamed commands are connected with a line.Neue Befehle sind rot eingekreist. Umbenannte Befehle werden mit einer Linie verbunden.
Wo filtern ist ein neuer Befehl für JMP 17. Mit diesem Befehl können Sie die Übersichtstabelle filtern, sodass nur Prozesse angezeigt werden, die bestimmte Bedingungen erfüllen. Führen Sie als Beispiel Folgendes aus:
dt=Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");
obj=dt<<RUN script=""></RUN>
Standardmäßig werden 118 Prozesse angezeigt. Das sind viele Informationen, die es zu sortieren gilt. Angenommen, Sie möchten Prozesse mit einem Stabilitätsindexwert größer oder gleich 1,03 betrachten. Wählen Sie dazu im roten Dreiecksmenü die Option „Wohin filtern“ aus. Wählen Sie „Stabilitätsindex“ unter „Spalte auswählen“. Wählen Sie >= aus der Dropdown-Liste „Vergleich“ aus. Geben Sie 1,03 in das Feld Wert ein. OK klicken.
Jetzt enthält die Übersichtstabelle nur noch die acht Prozesse, die einer genaueren Betrachtung bedürfen und deren Stabilitätsindex größer oder gleich 1,03 ist.
Diagramme als ausgewählt anzeigen ist ein weiterer neuer Befehl für JMP 17. Dieser neue Befehl bietet größere, detailliertere Kontrolldiagrammansichten von Prozessen, wenn diese in der zusammenfassenden Berichtstabelle ausgewählt werden. Führen Sie Folgendes aus, um ein Beispiel anzuzeigen:
dt=Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");
obj=dt<<RUN script=""></RUN>
Im Gegensatz zu den Schnelldiagrammen in Version 16.2 ist dieses Diagramm größer. Punkte werden im Diagramm angezeigt und Verstöße von Test 1 (standardmäßig) werden im Diagramm angezeigt. Der Kontrolldiagrammtyp wird auch in der Y-Achsenbeschriftung vermerkt. Wenn Sie in der Übersichtsberichtstabelle verschiedene Prozesse auswählen, wird „Diagramme als ausgewählt“ aktualisiert, um Diagramme für die ausgewählten Prozesse anzuzeigen. Versuchen Sie, verschiedene Prozesse auszuwählen, um zu sehen, was passiert.
Diagramme für Ausgewählte anzeigen ist der neue Name für Quick Graphs for Selected Items, der in früheren Versionen von JMP zu finden war.Diese Diagramme sind kleiner als die ausgewählten Diagramme.Standardmäßig zeigen sie keine Punkte an, testen keine Verstöße und geben auch nicht den Regelkartentyp an.
Diagrammeinstellungen ist ein neuer Befehl für JMP 17. Mit dieser Option können Sie steuern, was für die Befehle „Diagramme als ausgewählt“, „Diagramme für ausgewählt“, „Graphlet-Diagramme“ und „Driftdiagramme“ angezeigt wird. Anstatt für jeden der oben genannten Befehle Optionen aus dem roten Dreiecksmenü auswählen zu müssen, können Sie den Befehl „Diagrammeinstellungen“ verwenden, um Optionen für diese Befehle in einem einzigen Dialogfeld auszuwählen.
Sie können Ausbreitungskarten, Zonen und Alarmkreise zu allen Befehlen außer Driftkarten hinzufügen/entfernen. Sie können Markierungen, Verbindungslinien, Kontrollgrenzen, Mittellinien, vertikale Achsenbeschriftungen und Spezifikationsgrenzen ein- und ausschalten. Sie können auch die Rahmengröße und die Anzahl der Diagramme ändern (nicht verfügbar für Graphlet-Diagramme).
Für Ausgewählte starten enthält zwei Optionen: Control Chart Builder und Process Capability.Kontrolldiagramm für ausgewählte Elemente und Prozessfähigkeit für ausgewählte Elemente (in früheren Versionen von JMP enthalten) wurden in dieser neuen Einzelmenüoption zusammengefasst: Für ausgewählte Elemente starten.
Ausgewählte Elemente färben Und Ausgewählte Gegenstände löschen wurden in einen eigenen Abschnitt im Menü verschoben.
Plattformeinstellungen ist eine neue Option, die in allen JMP-Plattformen zu finden ist.Es enthält zwei Optionen: „Gehe zu …“ und „Änderungen speichern unter …“.Mit dem Befehl „Gehe zu …“ gelangen Sie zum Einstellungsdialog der Process Screening-Plattform.Der Befehl „Änderungen speichern unter …“ öffnet ein Dialogfeld, das die an der Ausgabe vorgenommenen nicht standardmäßigen Änderungen anzeigt und Sie fragt, ob Sie diese Änderungen in den Einstellungen speichern möchten.Sobald Sie sich die Zeit genommen haben, den Bericht genau so aussehen zu lassen, wie Sie es möchten, erhalten Sie durch das Speichern der Änderungen an den Einstellungen dieselben Optionen für alle zukünftigen Berichte derselben Art.
Ebenfalls neu in JMP 17 ist das Prozessscreening Spalteneigenschaft. Wählen Sie anhand der oben erwähnten Tabelle „Halbleiterfähigkeit“ NPN1 aus und wählen Sie „Cols->Column Info“. Wählen Sie im Dropdown-Menü „Spalteneigenschaften“ die Option „Prozessüberprüfung“ aus. Es gibt Optionen zur Eingabe einer Mittellinie, eines spezifizierten Sigmas und eines Messsigmas. Die Mittellinie ist die Mitte eines Prozesskontrolldiagramms (normalerweise der historische Mittelwert). Das angegebene Sigma ist die Standardabweichung des Prozesses innerhalb der Norm, die zur Berechnung der Kontrollgrenzen verwendet wird (typischerweise die historische Standardabweichung des Prozesses). Mess-Sigma ist die Variation des Messsystems. Verwenden Sie für die Mittellinie 115. Verwenden Sie für Specified Sigma 2,5.Für Measurement Sigma verwenden Sie 2.4.
Nachdem Sie auf „OK“ geklickt haben, führen Sie Folgendes aus (erfordert, dass die Datentabelle „Halbleiterfähigkeit“ bereits geöffnet ist):
dt=data table("Semiconductor Capability.jmp");
obj=dt<< Process Screening(
Process Variables( :NPN1 ),
Control Chart Type( "Indiv and MR" )
);
Beachten Sie im Bericht, dass 2,5 als spezifiziertes Sigma, 2,4 als Mess-Sigma und 115 als Mittellinie verwendet wird. MS-Portion wird ebenfalls zum Bericht hinzugefügt. Dieser Wert wird wie folgt berechnet: 100 * Messung Sigma^2 / Innerhalb von Sigma^2 = 100 * 2,4^2 / 2,635^2 = 83.
Menüänderungen für Process Screening in JMP 17 führen zu einer besseren Organisation und ermöglichen es Benutzern, Optionen schneller zu finden. Neue Befehle wie „Filtern wo“, „Diagramme als ausgewählt anzeigen“, „Diagrammoptionen“, „Process Screening“-Spalteneigenschaft und „Plattformeinstellungen“ bieten wichtige Verbesserungen und verbessern die Benutzerfreundlichkeit der Process Screening-Plattform.
