JMP17 apporte des changements clés au Criblage de processus plate-forme. Lorsque vous utilisez Process Screening dans JMP 17, vous remarquerez que les menus ont changé. Le criblage de processus ne se trouve plus dans le menu Screening. Il a été déplacé vers le menu Qualité et Processus. De plus, les options du menu du triangle rouge Process Screening ont changé.
New commands are circled in red. Renamed commands are connected with a line.New commands are circled in red. Renamed commands are connected with a line.New commands are circled in red. Renamed commands are connected with a line.New commands are circled in red. Renamed commands are connected with a line.Les nouvelles commandes sont entourées en rouge. Les commandes renommées sont connectées par une ligne.
Filtrer où est une nouvelle commande pour JMP 17. Cette commande vous permet de filtrer le tableau récapitulatif afin que seuls les processus qui répondent aux conditions spécifiées soient affichés. À titre d'exemple, exécutez ce qui suit :
dt=Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");
obj=dt<<RUN script=""></RUN>
Par défaut, 118 processus sont affichés. Cela fait beaucoup d’informations à trier. Supposons que vous souhaitiez examiner des processus dont la valeur de l'indice de stabilité est supérieure ou égale à 1,03. Pour ce faire, sélectionnez Filtrer où dans le menu du triangle rouge. Choisissez l'indice de stabilité dans « Choisir une colonne ». Sélectionnez >= dans la liste déroulante Comparaison. Entrez 1,03 dans le champ Valeur. Cliquez sur OK.
Désormais, le tableau récapitulatif ne contient que les huit processus nécessitant un examen plus approfondi avec un indice de stabilité supérieur ou égal à 1,03.
Afficher les graphiques comme sélectionnés est une autre nouvelle commande pour JMP 17. Cette nouvelle commande offre des vues de carte de contrôle plus grandes et plus détaillées des processus à mesure qu'ils sont sélectionnés dans le tableau du rapport récapitulatif. Exécutez la commande suivante pour voir un exemple :
dt=Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");
obj=dt<<RUN script=""></RUN>
Contrairement aux graphiques rapides de la version 16.2, ce graphique est plus grand. Les points sont affichés sur le graphique et les violations du test 1 (par défaut) sont affichées sur le graphique. Le type de carte de contrôle est également noté dans l'étiquette de l'axe Y. Au fur et à mesure que vous sélectionnez différents processus dans le tableau du rapport récapitulatif, les graphiques sélectionnés seront mis à jour pour afficher des graphiques pour les processus sélectionnés. Essayez de sélectionner différents processus pour voir ce qui se passe.
Afficher les graphiques pour la sélection est le nouveau nom des graphiques rapides pour les éléments sélectionnés trouvé dans les versions précédentes de JMP.Ces graphiques sont plus petits que les graphiques sélectionnés.Par défaut, ils n'affichent pas de points, ne testent pas les violations et n'indiquent pas le type de carte de contrôle.
Paramètres du graphique est une nouvelle commande pour JMP 17. Cette option vous permet de contrôler ce qui est affiché pour les commandes Graphiques sélectionnés, Graphiques sélectionnés, Graphiques Graphlet et Graphiques de dérive. Plutôt que d'avoir à sélectionner des options dans le menu triangulaire rouge pour chacune des commandes ci-dessus, vous pouvez utiliser la commande Paramètres du graphique pour sélectionner les options de ces commandes à l'aide d'une seule boîte de dialogue.
Vous pouvez ajouter/supprimer des graphiques de dispersion, des zones et des cercles d'alarme à toutes les commandes, à l'exception des graphiques de dérive. Vous pouvez activer/désactiver les marqueurs, la ligne de connexion, les limites de contrôle, la ligne centrale, l'étiquette de l'axe vertical et les limites de spécifications. Vous pouvez également modifier la taille du cadre et le nombre de tracés (non disponible pour les graphiques Graphlet).
Lancer pour la sélection contient deux options : Control Chart Builder et Process Capability.La carte de contrôle pour les éléments sélectionnés et la capacité de processus pour les éléments sélectionnés (trouvées dans les versions précédentes de JMP) ont été combinées dans cette nouvelle option de menu unique : Lancer pour les éléments sélectionnés.
Couleur des éléments sélectionnés et Supprimer les éléments sélectionnés ont été déplacés vers leur propre section dans le menu.
Préférences de plateforme est une nouvelle option présente sur toutes les plateformes JMP.Il contient deux choix : Aller à… et Enregistrer les modifications dans….La commande Aller à… vous amènera à la boîte de dialogue des préférences de la plateforme Process Screening.La commande Enregistrer les modifications dans… ouvrira une boîte de dialogue qui affiche les modifications non par défaut apportées à la sortie et vous demande si vous souhaitez enregistrer ces modifications dans les préférences.Une fois que vous avez pris le temps de donner au rapport exactement ce que vous souhaitez, l'enregistrement des modifications apportées aux préférences vous offrira les mêmes options pour tous les futurs rapports du même type.
Une autre nouveauté de JMP 17 est le Criblage de processus propriété de colonne. À l’aide du tableau Capacité des semi-conducteurs mentionné ci-dessus, sélectionnez NPN1 et choisissez Cols->Column Info. Dans la liste déroulante Propriétés de la colonne, sélectionnez Filtrage des processus. Il existe des options pour saisir une ligne médiane, un sigma spécifié et un sigma de mesure. La ligne médiane est le centre d'une carte de contrôle de processus (généralement la moyenne historique). Le sigma spécifié est le processus dans l'écart type utilisé pour calculer les limites de contrôle (généralement l'écart type du processus historique). Le sigma de mesure est la variation du système de mesure. Pour la ligne centrale, utilisez 115. Pour Sigma spécifié, utilisez 2.5.Pour Mesure Sigma, utilisez 2.4.
Après avoir cliqué sur OK, exécutez ce qui suit (nécessite que le tableau de données Semiconductor Capability soit déjà ouvert) :
dt=data table("Semiconductor Capability.jmp");
obj=dt<< Process Screening(
Process Variables( :NPN1 ),
Control Chart Type( "Indiv and MR" )
);
Notez dans le rapport que 2,5 est utilisé comme sigma spécifié, 2,4 est utilisé comme sigma de mesure et 115 est utilisé comme ligne médiane. La partie MS est également ajoutée au rapport. Cette valeur est calculée comme suit : 100 * Mesure Sigma^2 / Dans Sigma^2 = 100 * 2,4^2 / 2,635^2 = 83.
Les modifications apportées au menu pour le contrôle des processus dans JMP 17 conduisent à une meilleure organisation et permettent aux utilisateurs de localiser les options plus rapidement. De nouvelles commandes telles que Filtrer où, Afficher les graphiques comme sélectionnés, Options de graphique, Propriété de colonne Process Screening et Préférences de plate-forme apportent des améliorations clés et améliorent la convivialité de la plate-forme Process Screening.
