Version 17 bringt einige wichtige Änderungen an der Prozessscreening Plattform.Wenn Sie Process Screening in JMP 17 verwenden, werden Sie feststellen, dass sich die Menüs geändert haben. Process Screening ist nicht mehr im Screening-Menü zu finden.Es wurde in das Menü Qualität und Prozess verschoben.Darüber hinaus haben sich die Menüoptionen des Prozess-Screenings mit dem roten Dreieck geändert.
New commands are circled in red. Renamed commands are connected with a line.Neue Befehle sind rot eingekreist. Umbenannte Befehle werden mit einer Linie verbunden.
Wo filtern ist ein neuer Befehl für Version 17. Mit diesem Befehl können Sie die Übersichtstabelle so filtern, dass nur Prozesse angezeigt werden, die bestimmte Bedingungen erfüllen.Führen Sie als Beispiel Folgendes aus:
dt=Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");
obj=dt<<RUN script=""></RUN>
Standardmäßig werden 118 Prozesse angezeigt.Das sind viele Informationen, die es zu sortieren gilt.Angenommen, Sie möchten Prozesse mit einem Stabilitätsindexwert größer oder gleich 1,03 betrachten. Wählen Sie dazu Filter wo aus dem roten Dreiecksmenü.Wählen Sie den Stabilitätsindex aus „Spalte auswählen“.Wählen Sie >= aus der Dropdown-Liste Vergleich aus.Geben Sie 1,03 in das Feld Wert ein.OK klicken.
Die Übersichtstabelle enthält nun nur noch die 8 Prozesse, die näher betrachtet werden müssen, mit einem Stabilitätsindex größer oder gleich 1,03.
Diagramme als ausgewählt anzeigen ist ein weiterer neuer Befehl für Version 17. Dieser neue Befehl bietet größere, detailliertere Steuerungsdiagrammansichten von Prozessen, wie sie in der zusammenfassenden Berichtstabelle ausgewählt sind.Führen Sie Folgendes aus, um ein Beispiel anzuzeigen:
dt=Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");
obj=dt<<RUN script=""></RUN>
Im Gegensatz zu den Schnelldiagrammen in Version 16.2 ist dieses Diagramm größer.Punkte werden auf dem Diagramm angezeigt und Verstöße gegen Test 1 (standardmäßig) werden auf dem Diagramm angezeigt.Der Regelkartentyp wird auch in der Y-Achsenbeschriftung vermerkt.Wenn Sie verschiedene Prozesse in der zusammenfassenden Berichtstabelle auswählen, wird Charts as Selected aktualisiert, um Diagramme für die ausgewählten Prozesse anzuzeigen.Versuchen Sie, verschiedene Prozesse auszuwählen, um zu sehen, was passiert.
Diagramme für Ausgewählte anzeigen ist der neue Name für Quick Graphs for Selected Items, der in früheren Versionen von JMP gefunden wurde.Diese Diagramme sind kleiner als Diagramme wie ausgewählt.Standardmäßig zeigen sie keine Punkte, Testverletzungen oder geben den Regelkartentyp an.
Diagrammeinstellungen ist ein neuer Befehl für Version 17. Mit dieser Option können Sie steuern, was für die Befehle Charts as Selected, Charts for Selected, Graphlet Charts und Drift Charts angezeigt wird.Anstatt Optionen aus dem Menü mit dem roten Dreieck für jeden der obigen Befehle auswählen zu müssen, können Sie den Befehl „Diagrammeinstellungen“ verwenden, um Optionen für diese Befehle in einem einzigen Dialogfeld auszuwählen.
Sie können Ausbreitungsdiagramme, Zonen und Alarmkreise zu allen Befehlen hinzufügen/entfernen, außer Driftdiagrammen.Sie können Markierungen ein-/ausschalten, Linien verbinden, Grenzen steuern, Mittellinie, vertikale Achsenbeschriftung und Spezifikationsgrenzen festlegen.Sie können auch die Rahmengröße und die Anzahl der Querdiagramme ändern (nicht verfügbar für Graphlet-Diagramme).
Start für Ausgewählte enthält zwei Optionen: Control Chart Builder und Process Capability.Control Chart for Selected Items und Process Capability for Selected Items (zu finden in früheren Versionen von JMP) wurden zu dieser neuen einzelnen Menüoption kombiniert: Launch for Selected.
Ausgewählte Elemente färben Und Ausgewählte Gegenstände löschen wurden in einen eigenen Bereich im Menü verschoben.
Plattformeinstellungen ist eine neue Option, die auf allen JMP-Plattformen zu finden ist.Es enthält zwei Auswahlmöglichkeiten: Gehe zu … und Änderungen speichern unter ….Mit dem Befehl Gehe zu … gelangen Sie zum Einstellungsdialog der Process Screening-Plattform.Der Befehl „Änderungen speichern unter …“ öffnet ein Dialogfeld, das die nicht standardmäßigen Änderungen an der Ausgabe anzeigt und Sie fragt, ob Sie diese Änderungen in den Einstellungen speichern möchten.Nachdem Sie sich die Zeit genommen haben, den Bericht genau so aussehen zu lassen, wie Sie es möchten, erhalten Sie durch Speichern der Änderungen an den Einstellungen dieselben Optionen für alle zukünftigen Berichte der gleichen Art.
Ebenfalls neu in Version 17 ist die Prozess-Screening Spalteneigenschaft.Wählen Sie unter Verwendung der oben erwähnten Semiconductor Capability-Tabelle NPN1 und dann Cols->Column Info.Wählen Sie in der Dropdown-Liste Spalteneigenschaften die Option Process Screening aus.Es gibt Optionen zum Eingeben einer Mittellinie, eines angegebenen Sigmas und eines Mess-Sigmas.Die Mittellinie ist der Mittelpunkt eines Prozessregeldiagramms (normalerweise der historische Mittelwert).Das angegebene Sigma ist der Prozess innerhalb der Standardabweichung, der zur Berechnung der Eingriffsgrenzen verwendet wird (normalerweise die historische Standardabweichung des Prozesses).Mess-Sigma ist die Streuung des Messsystems.Verwenden Sie für die Mittellinie 115.Für Specified Sigma verwenden Sie 2,5.Für Measurement Sigma verwenden Sie 2.4.
Nachdem Sie auf „OK“ geklickt haben, führen Sie Folgendes aus (erfordert, dass die Datentabelle „Halbleiterfähigkeit“ bereits geöffnet ist):
dt=data table("Semiconductor Capability.jmp");
obj=dt<< Process Screening(
Process Variables( :NPN1 ),
Control Chart Type( "Indiv and MR" )
);
Beachten Sie im Bericht, dass 2,5 als spezifiziertes Sigma, 2,4 als Mess-Sigma und 115 als Mittellinie verwendet werden.MS-Portion wird ebenfalls zum Bericht hinzugefügt.Dieser Wert wird berechnet als 100 * Messung Sigma^2 / Innerhalb von Sigma^2 = 100 * 2,4^2 / 2,635^2 = 83.
Menüänderungen für Process Screening in Version 17 führen zu einer besseren Organisation und ermöglichen es Benutzern, Optionen schneller zu finden.Neue Befehle wie „Filter wo“, „Diagramme als ausgewählt anzeigen“, „Diagrammoptionen“, „Process Screening“-Spalteneigenschaft und „Plattformeinstellungen“ bieten wichtige Verbesserungen und verbessern die Benutzerfreundlichkeit der Process Screening-Plattform.
