version 17 apporte des changements essentiels à la Dépistage des processus plateforme.Lorsque vous utilisez Process Screening dans JMP 17, vous remarquerez que les menus ont changé. Process Screening ne se trouve plus dans le menu Screening.Il a été déplacé vers le menu Qualité et processus.De plus, les options du menu du triangle rouge Process Screening ont changé.
New commands are circled in red. Renamed commands are connected with a line.Les nouvelles commandes sont entourées en rouge. Les commandes renommées sont reliées par une ligne.
Filtrer Où est une nouvelle commande pour la version 17. Cette commande vous permet de filtrer le tableau récapitulatif afin que seuls les processus qui remplissent les conditions spécifiées soient affichés.Par exemple, exécutez ce qui suit :
dt=Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");
obj=dt<<RUN script=""></RUN>
Par défaut, 118 processus sont affichés.C'est beaucoup d'informations à trier.Supposons que vous souhaitiez examiner les processus avec une valeur d'indice de stabilité supérieure ou égale à 1,03. Pour ce faire, sélectionnez Filtrer où dans le menu du triangle rouge.Choisissez l'indice de stabilité dans "Choisir une colonne".Sélectionnez >= dans le menu déroulant Comparaison.Entrez 1,03 dans le champ Valeur.Cliquez sur OK.
Désormais, le tableau récapitulatif ne contient que les 8 processus qui nécessitent un examen plus approfondi avec un indice de stabilité supérieur ou égal à 1,03.
Afficher les graphiques comme sélectionnés est une autre nouvelle commande de la version 17. Cette nouvelle commande donne des vues de carte de contrôle plus grandes et plus détaillées des processus lorsqu'ils sont sélectionnés dans le tableau du rapport récapitulatif.Exécutez la commande suivante pour voir un exemple :
dt=Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");
obj=dt<<RUN script=""></RUN>
Contrairement aux graphiques rapides de la version 16.2, ce graphique est plus grand.Les points sont affichés sur le graphique et les violations du test 1 (par défaut) sont affichées sur le graphique.Le type de carte de contrôle est également noté dans l'étiquette de l'axe Y.Au fur et à mesure que vous sélectionnez différents processus dans le tableau du rapport récapitulatif, les graphiques sélectionnés seront mis à jour pour afficher les graphiques des processus sélectionnés.Essayez de sélectionner différents processus pour voir ce qui se passe.
Afficher les graphiques pour la sélection est le nouveau nom des graphiques rapides pour les éléments sélectionnés qui se trouvaient dans les versions précédentes de JMP.Ces graphiques sont plus petits que les graphiques sélectionnés.Par défaut, ils n'affichent pas les points, ne testent pas les violations ou ne donnent pas le type de carte de contrôle.
Paramètres du graphique est une nouvelle commande de la version 17. Cette option vous permet de contrôler ce qui est affiché pour les commandes Graphiques comme sélectionnés, Graphiques pour la sélection, Graphiques en graphlets et Graphiques de dérive.Plutôt que d'avoir à sélectionner des options dans le menu du triangle rouge pour chacune des commandes ci-dessus, vous pouvez utiliser la commande Paramètres du graphique pour sélectionner des options pour ces commandes à l'aide d'une seule boîte de dialogue.
Vous pouvez ajouter/supprimer des diagrammes de dispersion, des zones et des cercles d'alarme à toutes les commandes, à l'exception des diagrammes de dérive.Vous pouvez activer/désactiver les marqueurs, connecter la ligne, contrôler les limites, la ligne centrale, l'étiquette de l'axe vertical et les limites de spécification.Vous pouvez également modifier la taille du cadre et le nombre de tracés de travers (non disponible pour les graphiques graphlet).
Lancement pour la sélection contient deux options : Control Chart Builder et Process Capability.La carte de contrôle pour les éléments sélectionnés et la capacité de processus pour les éléments sélectionnés (présentes dans les versions précédentes de JMP) ont été combinées dans cette nouvelle option de menu unique : Lancer pour les éléments sélectionnés.
Couleur des éléments sélectionnés et Supprimer les éléments sélectionnés ont été déplacés vers leur propre section dans le menu.
Préférences de plate-forme est une nouvelle option présente sur toutes les plates-formes JMP.Il contient deux choix : Aller à … et Enregistrer les modifications dans ….La commande Aller à … vous amènera à la boîte de dialogue des préférences de la plate-forme Process Screening.La commande Enregistrer les modifications dans… ouvre une boîte de dialogue qui affiche les modifications non par défaut apportées à la sortie et vous demande si vous souhaitez enregistrer ces modifications dans les préférences.Une fois que vous avez passé du temps à obtenir le rapport exactement comme vous le souhaitez, l'enregistrement des modifications apportées aux préférences vous donnera les mêmes options pour tous les futurs rapports du même type.
Autre nouveauté de la version 17, le Dépistage des processus propriété de la colonne.À l'aide du tableau des capacités des semi-conducteurs mentionné ci-dessus, sélectionnez NPN1 et choisissez Cols->Column Info.Dans la liste déroulante Propriétés de la colonne, sélectionnez Traiter le filtrage.Il existe des options pour entrer une ligne médiane, un sigma spécifié et un sigma de mesure.La ligne centrale est le centre d'une carte de contrôle de processus (généralement la moyenne historique).Le sigma spécifié est le processus dans l'écart type qui est utilisé pour calculer les limites de contrôle (généralement l'écart type du processus historique).Le sigma de mesure est la variation du système de mesure.Pour la ligne centrale, utilisez 115.Pour Sigma spécifié, utilisez 2.5.Pour la mesure Sigma, utilisez 2.4.
Après avoir cliqué sur OK, exécutez ce qui suit (nécessite que la table de données Semiconductor Capability soit déjà ouverte) :
dt=data table("Semiconductor Capability.jmp");
obj=dt<< Process Screening(
Process Variables( :NPN1 ),
Control Chart Type( "Indiv and MR" )
);
Notez dans le rapport que 2,5 est utilisé comme sigma spécifié, 2,4 est utilisé comme sigma de mesure et 115 est utilisé comme ligne centrale.La portion MS est également ajoutée au rapport.Cette valeur est calculée comme suit : 100 * Sigma de mesure^2 / Dans Sigma^2 = 100 * 2,4^2 / 2,635^2 = 83.
Les changements de menu pour le filtrage des processus dans la version 17 conduisent à une meilleure organisation et permettent aux utilisateurs de localiser les options plus rapidement.De nouvelles commandes telles que Filter Where, Show Charts as Selected, Chart Options, Process Screening column property et Platform Preferences fournissent des améliorations clés et améliorent la convivialité de la plate-forme Process Screening.
