JMP 17 몇 가지 주요 변경 사항을 가져옵니다. 공정심사 플랫폼. JMP 17에서 공정 선별을 사용하면 메뉴가 변경되었음을 알 수 있습니다. 공정 심사는 더 이상 심사 메뉴에 포함되지 않습니다. 품질 및 프로세스 메뉴로 이동했습니다. 또한 프로세스 심사 빨간색 삼각형 메뉴 옵션이 변경되었습니다.
New commands are circled in red. Renamed commands are connected with a line.New commands are circled in red. Renamed commands are connected with a line.New commands are circled in red. Renamed commands are connected with a line.New commands are circled in red. Renamed commands are connected with a line.새로운 명령은 빨간색 원으로 표시됩니다. 이름이 바뀐 명령은 선으로 연결됩니다.
필터 위치 JMP 17의 새로운 명령입니다. 이 명령을 사용하면 특정 조건을 충족하는 프로세스만 표시되도록 요약 테이블을 필터링할 수 있습니다. 예를 들어 다음을 실행합니다.
dt=Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");
obj=dt<<RUN script=""></RUN>
기본적으로 118개의 프로세스가 표시됩니다. 정리해야 할 정보가 너무 많습니다. 안정성 지수 값이 1.03보다 크거나 같은 프로세스를 보고 싶다고 가정해 보겠습니다. 이렇게 하려면 빨간색 삼각형 메뉴에서 필터 위치를 선택합니다. "열 선택"에서 안정성 지수를 선택합니다. 비교 드롭다운에서 >=를 선택합니다. 값 필드에 1.03을 입력합니다. 확인을 클릭하세요.
이제 요약 테이블에는 안정성 지수가 1.03 이상인 자세히 살펴봐야 하는 8개의 프로세스만 포함됩니다.
선택한 대로 차트 표시 JMP 17의 또 다른 새로운 명령입니다. 이 새로운 명령은 요약 보고서 테이블에서 선택된 프로세스에 대한 더 크고 자세한 제어 차트 보기를 제공합니다. 예시를 보려면 다음을 실행하세요.
dt=Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");
obj=dt<<RUN script=""></RUN>
버전 16.2의 빠른 그래프와 달리 이 그래프는 더 큽니다. 그래프에 점이 표시되고, 검정 1 위반(기본적으로)이 그래프에 표시됩니다. 관리도 유형은 Y축 레이블에도 표시됩니다. 요약 보고서 테이블에서 다른 프로세스를 선택하면 선택된 차트가 업데이트되어 선택한 프로세스에 대한 그래프를 표시합니다. 다른 프로세스를 선택하여 어떤 일이 일어나는지 확인해 보세요.
선택한 항목에 대한 차트 표시 은 이전 버전의 JMP에 있는 선택한 항목에 대한 빠른 그래프의 새 이름입니다.이 그래프는 선택한 차트보다 작습니다.기본적으로 포인트, 테스트 위반 또는 관리 차트 유형을 표시하지 않습니다.
차트 설정 JMP 17의 새로운 명령입니다. 이 옵션을 사용하면 선택된 차트, 선택된 차트, 그래프렛 차트 및 드리프트 차트 명령에 대해 표시되는 내용을 제어할 수 있습니다. 위의 각 명령에 대해 빨간색 삼각형 메뉴에서 옵션을 선택하는 대신 차트 설정 명령을 사용하면 단일 대화 상자를 통해 이러한 명령에 대한 옵션을 선택할 수 있습니다.
드리프트 차트를 제외한 모든 명령에 분산 차트, 구역 및 알람 서클을 추가/제거할 수 있습니다. 마커, 연결선, 제어 한계, 중심선, 수직 축 레이블 및 사양 한계를 켜거나 끌 수 있습니다. 프레임 크기와 가로 플롯 수를 변경할 수도 있습니다(그래프렛 차트에는 사용할 수 없음).
선택된 항목에 대해 실행 관리도 작성기 및 프로세스 기능이라는 두 가지 옵션이 포함되어 있습니다.선택한 항목에 대한 관리도와 선택한 항목에 대한 처리 기능(이전 버전의 JMP에 있음)이 새로운 단일 메뉴 옵션인 Launch for Selected로 결합되었습니다.
선택한 항목 색상 그리고 선택한 항목 제거 메뉴의 해당 섹션으로 이동되었습니다.
플랫폼 기본 설정 모든 JMP 플랫폼에서 볼 수 있는 새로운 옵션입니다.여기에는 ...으로 이동 및 ...에 변경 사항 저장이라는 두 가지 선택 사항이 포함되어 있습니다.Go to … 명령을 사용하면 Process Screening 플랫폼 기본 설정 대화 상자로 이동합니다.변경 사항 저장... 명령은 출력에 대한 기본값이 아닌 변경 사항을 표시하고 이러한 변경 사항을 기본 설정에 저장할지 묻는 대화 상자를 엽니다.보고서가 원하는 대로 정확하게 표시되도록 시간을 투자한 후 기본 설정에 대한 변경 사항을 저장하면 향후 동일한 종류의 모든 보고서에 대해 동일한 옵션이 제공됩니다.
JMP 17의 또 다른 새로운 기능은 공정심사 열 속성. 위에서 언급한 반도체 기능 테이블을 사용하여 NPN1을 선택하고 Cols->Column Info를 선택합니다. 열 속성 드롭다운에서 프로세스 선별을 선택합니다. 중심선, 지정된 시그마 및 측정 시그마를 입력하는 옵션이 있습니다. 중심선은 공정 관리도(일반적으로 과거 평균)의 중심입니다. 지정된 시그마는 관리 한계를 계산하는 데 사용되는 표준 편차 내의 프로세스입니다(일반적으로 과거 프로세스 표준 편차). 측정 시그마는 측정 시스템의 변형입니다. 중앙선에는 115를 사용합니다. 지정된 시그마의 경우 2.5를 사용합니다.측정 시그마의 경우 2.4를 사용하십시오.
확인을 클릭한 후 다음을 실행합니다(반도체 성능 데이터 테이블이 이미 열려 있어야 함).
dt=data table("Semiconductor Capability.jmp");
obj=dt<< Process Screening(
Process Variables( :NPN1 ),
Control Chart Type( "Indiv and MR" )
);
보고서에서 2.5는 지정된 시그마로 사용되고 2.4는 측정 시그마로 사용되며 115는 중심선으로 사용됩니다. MS 부분도 보고서에 추가됩니다. 이 값은 100 * 측정 시그마^2 / 시그마^2 이내 = 100 * 2.4^2 / 2.635^2 = 83으로 계산됩니다.
JMP 17의 공정 선별 메뉴 변경으로 인해 구성이 더 좋아지고 사용자가 옵션을 더 빨리 찾을 수 있습니다. 필터 위치, 선택된 항목으로 차트 표시, 차트 옵션, 프로세스 선별 열 속성 및 플랫폼 기본 설정과 같은 새로운 명령은 주요 개선 사항을 제공하고 프로세스 선별 플랫폼의 유용성을 향상시킵니다.
