JMP 17 trae consigo algunos cambios claves en el Selección de procesos plataforma. Al utilizar Process Screening en JMP 17, notará que los menús han cambiado. Procesamiento de detección ya no se encuentra en el menú Detección. Se ha movido al menú Calidad y Proceso. Además, las opciones del menú del triángulo rojo de Procesamiento de Detección han cambiado.
New commands are circled in red. Renamed commands are connected with a line.New commands are circled in red. Renamed commands are connected with a line.New commands are circled in red. Renamed commands are connected with a line.New commands are circled in red. Renamed commands are connected with a line.Los nuevos comandos están encerrados en un círculo rojo. Los comandos renombrados están conectados con una línea.
Filtrar donde es un nuevo comando para JMP 17. Este comando le permite filtrar la tabla de resumen para que solo se muestren los procesos que cumplan condiciones específicas. Como ejemplo, ejecute lo siguiente:
dt=Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");
obj=dt<<RUN script=""></RUN>
Por defecto, se muestran 118 procesos. Esta es mucha información para clasificar. Supongamos que desea observar procesos con un valor de índice de estabilidad mayor o igual a 1,03. Para hacer esto, seleccione Filtrar dónde en el menú del triángulo rojo. Elija Índice de estabilidad en "Elegir columna". Seleccione >= en el menú desplegable Comparación. Ingrese 1.03 en el campo Valor. Haga clic en Aceptar.
Ahora la tabla resumen solo contiene los ocho procesos que necesitan una mirada más cercana con un Índice de Estabilidad mayor o igual a 1,03.
Mostrar gráficos como seleccionados es otro comando nuevo para JMP 17. Este nuevo comando ofrece vistas de gráficos de control más grandes y detalladas de los procesos a medida que se seleccionan en la tabla del informe resumido. Ejecute lo siguiente para ver un ejemplo:
dt=Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");
obj=dt<<RUN script=""></RUN>
A diferencia de los gráficos rápidos de la versión 16.2, este gráfico es más grande. Los puntos se muestran en el gráfico y las infracciones de la Prueba 1 (de forma predeterminada) se muestran en el gráfico. El tipo de gráfico de control también se indica en la etiqueta del eje Y. A medida que selecciona diferentes procesos en la tabla del informe resumido, los Gráficos seleccionados se actualizarán para mostrar gráficos para los procesos seleccionados. Intente seleccionar diferentes procesos para ver qué sucede.
Mostrar gráficos para seleccionados es el nuevo nombre de Gráficos rápidos para elementos seleccionados que se encontraba en versiones anteriores de JMP.Estos gráficos son más pequeños que los Gráficos seleccionados.De forma predeterminada, no muestran puntos, prueban infracciones ni indican el tipo de gráfico de control.
Configuración del gráfico es un nuevo comando para JMP 17. Esta opción le permite controlar lo que se muestra para los comandos Gráficos seleccionados, Gráficos para seleccionados, Gráficos Graphlet y Gráficos de deriva. En lugar de tener que seleccionar opciones del menú del triángulo rojo para cada uno de los comandos anteriores, puede usar el comando Configuración del gráfico para seleccionar opciones para estos comandos usando un solo cuadro de diálogo.
Puede agregar/eliminar gráficos de dispersión, zonas y círculos de alarma a todos los comandos excepto a los gráficos de deriva. Puede activar/desactivar marcadores, conectar líneas, controlar límites, líneas centrales, etiquetas de eje vertical y límites de especificaciones. También puede modificar el tamaño del marco y el número de trazados (no disponible para gráficos Graphlet).
Lanzamiento para seleccionados contiene dos opciones: Generador de gráficos de control y Capacidad de proceso.El gráfico de control para elementos seleccionados y la capacidad de proceso para elementos seleccionados (que se encuentran en versiones anteriores de JMP) se combinaron en esta nueva opción de menú único: Iniciar para seleccionados.
Color de elementos seleccionados y Eliminar los elementos seleccionados se han movido a su propia sección en el menú.
Preferencias de plataforma es una nueva opción que se encuentra en todas las plataformas JMP.Contiene dos opciones: Ir a… y Guardar cambios en….El comando Ir a... lo llevará al cuadro de diálogo de preferencias de la plataforma de detección de procesos.El comando Guardar cambios en... abrirá un cuadro de diálogo que muestra los cambios no predeterminados realizados en la salida y le preguntará si desea guardar estos cambios en las preferencias.Una vez que haya dedicado tiempo a que el informe tenga exactamente el aspecto que desea, guardar los cambios en las preferencias le brindará las mismas opciones para todos los informes futuros del mismo tipo.
Otra novedad en JMP 17 es la Selección de procesos propiedad de la columna. Usando la tabla de capacidad de semiconductores mencionada anteriormente, seleccione NPN1 y elija Cols->Información de columna. En el menú desplegable Propiedades de columna, seleccione Procesar cribado. Hay opciones para ingresar una línea central, sigma especificado y sigma de medición. La línea central es el centro de un gráfico de control de procesos (normalmente la media histórica). La sigma especificada es el proceso dentro de la desviación estándar que se utiliza para calcular los límites de control (normalmente la desviación estándar del proceso histórico). La medida sigma es la variación del sistema de medida. Para la línea central, utilice 115. Para Sigma especificado, utilice 2.5.Para Medición Sigma utilice 2.4.
Después de hacer clic en Aceptar, ejecute lo siguiente (requiere que la tabla de datos de capacidad del semiconductor ya esté abierta):
dt=data table("Semiconductor Capability.jmp");
obj=dt<< Process Screening(
Process Variables( :NPN1 ),
Control Chart Type( "Indiv and MR" )
);
Observe en el informe que se utiliza 2,5 como sigma especificado, 2,4 como sigma de medición y 115 como línea central. La porción MS también se agrega al informe. Este valor se calcula como 100 * Medición Sigma^2 / Dentro de Sigma^2 = 100 * 2,4^2 / 2,635^2 = 83.
Los cambios en el menú para la detección de procesos en JMP 17 conducen a una mejor organización y permiten a los usuarios localizar opciones más rápidamente. Los nuevos comandos, como Filtrar dónde, Mostrar gráficos como seleccionados, Opciones de gráfico, propiedad de la columna Process Screening y Preferencias de plataforma, proporcionan mejoras clave y mejoran la usabilidad de la plataforma Process Screening.
