안녕!
Easy DoE 플랫폼 내에서 표면 프로파일러 플롯을 시각화할 수 있다면 좋을 것 같습니다. RSM을 설계하는 것이 가능하기 때문에 특정 프로파일러에서 이러한 결과를 볼 수 있다는 것도 의미가 있습니다.
