许多参数的 Cpk 分析我知道我们可以通过使用过程能力获得单个或多个参数 Cpk 分析。 但是该功能对于深入了解几个参数很有用。 但我需要为 Cpk 运行数百个参数并将它们按升序排序。 然后我只检查那些 Cpk 较低的参数，并查看更多细节，如过程能力。 知道如何实现吗？
回复：许多参数的 Cpk 分析我得到了它。 我可以通过红色三角形 -> 性能图边界更改边界。
回复：许多参数的 Cpk 分析谢谢伊恩。 我不知道这个很棒的 JMP 功能！
顺便问一下，是否可以更改过程性能图象限定义？ 似乎默认情况下，稳定比设置为 1.5，ppk 设置为 2.0。 我怎样才能改变它？ 改变参考线不会改变象限。
回复：许多参数的 Cpk 分析伊恩的是一个更好的解决方案回复：许多参数的 Cpk 分析你还应该仔细看看过程筛选平台。 它就是为这种情况而建造的。 也看到这个最近推介会经过@Laura_Lancaster .
回复：许多参数的 Cpk 分析这是让您入门的一种方法。它适用于任意数量的列。它确实假设规格限嵌入到数据列中，作为规格限列属性
names default to here(1);
// Open a sample data table that has the Column Property of "Spec Limits" set
dt=Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");
// Create a List that has all of the columns that need to be processed
colNamesList = dt << Get Column Names( String, continuous );
// Start to Build the command string to run all of the outputs
theExpr = "dist = dt << Distribution( invisible,";
// Loop across all of the required columns to generate the Cpks
For( i = 1, i<=Nitems(colNamesList), i++,
theExpr = theExpr || "Continuous Distribution( Column( " || colNamesList[i] || ")),";
);
// Finish up the command string
theExpr = TheExpr || ");";
eval(Parse(theExpr));
// Create the data table with all of the capability stats
dtCap = report(Dist)["Long Term Sigma"][TableBox(1)]<<MAKE combined="" data="https://community.jmp.com/" table=""></MAKE>
