게이지 R&R 분석 수행무료 온라인 과정에서 자세히 알아보세요.
산업문제 해결을 위한 통계적 사고
이번 영상에서는 파일을 사용하겠습니다. 마이크로미터.jmp JMP에서 게이지 R&R 분석을 수행하는 방법을 보여줍니다.
본 연구에서 관심 측정 시스템은 핸드 마이크로미터이며, 품질 특성은 금속 베어링의 직경이다. 이 연구에는 10개의 부품을 측정하는 3명의 검사관이 참여하며, 각 검사관은 각 부품을 두 번씩 측정합니다.
을 선택하자 측정 시스템 분석 플랫폼에서 분석하다 아래 메뉴 품질과 공정 .
우리는 선택한다 지름 ~처럼 예, 응답 , 부분 ~처럼 부품, 샘플 ID 그리고 조사관 ~처럼 X, 그룹화 , 및 아래 MSA 방법 , 우리는 선택합니다 게이지 R&R .
그만큼 모델 유형은 교차 , 모든 검사자가 모든 부품을 측정하기 때문입니다. 여러 가지 분석 설정을 사용할 수 있습니다. 우리는 선택한다 REML 분석 사용 분산 성분을 추정하는 방법으로 을 클릭하고 좋아요 . 다른 분석 설정을 선택하면 결과가 약간 다를 수 있습니다. 분산 성분을 추정하는 데 사용할 수 있는 방법에 대한 자세한 내용을 보려면 JMP 도움말에서 분산 성분을 검색하세요.
마지막으로 클릭합니다. 좋아요 분석을 실행합니다.
다음에 대한 변동성 차트 지름 각 검사자가 측정한 부품별 반복 측정값을 보여줍니다.
Gauge R&R 분석을 수행하려면 다음을 선택합니다. 게이지 연구 상단의 빨간색 삼각형에서 게이지 R&R .
K, 시그마 승수는 6입니다. 이는 프로세스 폭을 6 표준 편차로 정의합니다.
사양 한계 또는 사양 한계의 너비인 공차 구간을 입력할 수 있습니다. 공차 구간을 3cm로 입력합니다.
게이지 R&R과 분산 성분이라는 두 가지 출력 테이블이 제공됩니다.
분산 성분 표에는 각 변동 원인에 대한 분산이 요약되어 있습니다.
게이지 R&R 표에는 공차 간격, 즉 사양 폭과 관련된 변동 원인이 요약되어 있습니다. 각 변동 원인에 대해 표준 편차 추정치의 6배가 변동(6*StdDev) 열 아래에 보고됩니다. 그런 다음 이 결과를 공차 구간과 비교합니다.
예를 들어 반복성을 생각해 보십시오. 반복성 변화로 인한 잠재적인 측정 폭은 1.23cm입니다. 사양 제한은 너비가 3cm입니다. 반복성으로 인한 변동성은 1.23을 3.0으로 나눈 값, 즉 사양 한계 폭의 41%입니다.
측정 변동의 모든 소스를 포함하는 총 게이지 R&R 변동의 너비는 1.34cm입니다. 이는 사양 한계보다 44.53% 더 넓습니다.
이 값은 정밀도 대 공차(또는 P/T) 비율로도 보고됩니다. 여기서 정밀도는 전체 게이지 R&R 변동이고 공차는 사양의 폭입니다. 우리의 P/T 비율은 44.53입니다.
P/T 비율이 10% 미만인 측정 시스템은 일반적으로 양호한 것으로 간주됩니다. P/T 비율이 10~30%인 측정 시스템은 측정이 얼마나 중요한지, 시스템을 개선하는 데 드는 비용과 같은 요소에 따라 허용 가능한 것으로 간주될 수 있습니다. P/T 비율이 30%를 초과하는 측정 시스템은 일반적으로 개선이 필요한 것으로 간주됩니다.
측정 변동을 우리의 사양과 비교해 보면 우리의 측정 시스템에 개선이 필요하다는 것을 분명히 알 수 있습니다.
품질 및 프로세스 엔지니어링Re: 게이지 R&R 분석 수행(수십 개의 출력(각각 허용 한계가 있음)에 대해 게이지 R&R 분석을 효율적으로 수행하는 방법)
JMP에서는 일반적으로 단일 출력에 대해 게이지 R&R을 수행하는 것이 매우 쉽습니다. 변동성 차트 플랫폼(분석 > 품질 및 프로세스 아래) 내의 게이지 R&R 사양 대화 상자가 표시되면 허용 한도(또는 허용 범위)를 입력합니다. ), 그러면 JMP가 결과를 생성합니다.
JMP를 사용하여 수십, 수백, 심지어 수천 개의 출력(각 출력에는 공차 한계 포함)에 대한 게이지 R&R 분석을 효율적으로 수행하려면 어떻게 해야 할까요?이러한 제한을 수동으로 입력하는 것은 엄청나게 비효율적입니다.아마도 가장 쉬운(그리고 확실히 가장 상호작용적인) 방법은 한도 관리 공익사업.예를 들어 JMP 샘플 데이터 폴더에서 사용할 수 있는 반도체 기능 샘플 데이터세트(128개 출력)를 고려해 보세요.
원시 데이터는 Tall 형식이 아닌 이 Wide 형식(열당 하나의 출력 포함)이어야 합니다.그렇지 않은 경우 테이블 > 분할을 사용하여 데이터를 재구성할 수 있습니다.
데이터 테이블에서 분석 > 품질 및 프로세스 > 한계 관리로 이동합니다. 모든 프로세스 변수를 입력하고 확인을 클릭합니다.
MSA 섹션을 확장하면 허용 한도를 입력할 수 있습니다.
프로세스 변수에 대한 모든 한계가 포함된 테이블이 이미 있는 경우 창 하단에 있는 한계 테이블에서 로드를 사용할 수 있습니다. 한계를 읽으려면 테이블이 두 가지 특정 형식 중 하나여야 합니다. 이 페이지 해당 형식이 무엇인지 설명합니다.
한계 관리 대화 상자를 채운 후 열 속성에 저장 단추. 적절한 제한은 각 열의 데이터 테이블에 연결됩니다. 그런 다음 Gauge R&R을 실행하면 한계가 자동으로 입력됩니다.
매개변수가 1000개 이상 있다고 가정해 보겠습니다. Gauge R&R을 실행할 때 한계가 자동으로 삽입되더라도 기본적으로 JMP에서는 각 매개변수에 대한 사양 대화 상자를 표시합니다. 이렇게 하려면 JMP가 1000개가 넘는 프로세스 변수 각각에 대한 분석을 생성하기 전에 "확인: 1000번 이상"을 눌러야 합니다.이를 우회하기 위해 게이지 R&R 분석을 선택할 때 사양 대화 상자가 나타나지 않도록 선택 취소할 수 있는 기본 설정이 있습니다.
파일 > 기본 설정으로 이동하여 플랫폼 기본 설정 그룹을 선택하세요. 그런 다음 변동성 분석을 선택합니다. "게이지 R&R 사양 대화 상자 표시 [기본값 켜짐]" 기본 설정을 찾습니다. 옆에 있는 확인란을 선택 취소하고 확인을 클릭하여 창을 닫습니다. 이제 이 기본 설정을 선택 취소하면 JMP는 사양 입력 대화 상자를 표시하지 않고 데이터 테이블에 정의된 사양 제한을 사용합니다.
도움이 되었기를 바랍니다!
Re: 게이지 R&R 분석 수행안녕하세요 @drotshil , JMP 기술 지원팀에 문의해 주셔서 감사합니다. 귀하의 질문이 만족스러운 답변을 받게 되어 기쁘게 생각합니다. 추가로 필요한 사항이 있으면 주저하지 말고 다음 주소로 문의해 주세요. support@jmp.com 또는 우리에게 전화하세요 800.450.0135(미국) 오전 9시~오후 5시(EST MF). 건배, @PatrickGiuliano
추신 여기 커뮤니티의 다른 사용자를 위해 후속 댓글에 제공한 지침 요약을 포함하고 있습니다(동료 제공). @셀리그만 ).
Re: 게이지 R&R 분석 수행안녕 @mia_stephens , 내 원시 데이터를 support@jmp.com으로 보낼 수 있습니다. 제한 관리 옵션을 어떻게 사용해야 하는지 보여주실 수 있도록 짧은 교육 세션을 가질 수 있는지 궁금합니다. 어쩌면 내가 제대로 하고 있지 않은 것일 수도 있다.
Re: 게이지 R&R 분석 수행안녕 @drotshil , 흠, 작동해야 하지만 데이터를 보지 않고는 왜 작동하지 않는지 알기가 어렵습니다. 이 내용을 당사의 기술 지원 팀에 보내시겠습니까? support@jmp.com 그러면 데이터와 근본 원인을 더 잘 이해할 수 있을까요? 감사합니다!
Re: 게이지 R&R 분석 수행안녕 @mia_stephens , 조언 감사합니다. 실제로 저는 이미 Manage Limits를 사용해 보았고 Lower Tolerance, Upper Tolerance 및 Range Tolerance가 포함된 테이블을 만들었습니다. Gage R&R 분석을 수행하고 한계를 업로드하려고 시도했지만 작동하지 않았습니다. "한도 테이블에서 로드" 옵션을 사용했습니다(이전에 한도가 있는 테이블을 저장했을 때). 다른 옵션을 사용해야 할까요?
Re: 게이지 R&R 분석 수행안녕 @drotshil , JMP 17의 한계 관리 유틸리티를 통해 이 작업을 수행할 수 있다고 생각합니다. 분석 > 품질 및 프로세스에서 이를 찾을 수 있습니다. 공차 범위를 열 속성에 저장하면 Gage R&R 계산에 이 값이 사용됩니다. 플랫폼 내의 빨간색 삼각형에서 MSA 메타데이터 편집을 사용하여 허용 범위를 변경할 수도 있습니다.
Re: 게이지 R&R 분석 수행안녕 @줄리안 사용자 줄리안 @drotshil 이런 질문이 있었나요?"
매개변수가 많고 각 매개변수에 해당하는 별도의 공차 한계가 있는 경우 Gage R&R 분석을 수행하는 것을 어떻게 제안하시겠습니까? 비디오에 표시된 것처럼 수동으로 수행하는 것이 지쳤지만 공차 한계를 하나씩 수동으로 삽입해야 하며 이는 수백 개의 매개변수가 있는 경우 실용적이지 않습니다.
나는 JSL 스크립트를 작성하는 데 지쳤지만 불행하게도 작동하는 버전을 만드는 데 성공하지 못했습니다.
Gage R&R 계산을 위해 매개변수별로 한도를 자동으로 삽입하는 방법이 있습니까? (저는 JMP 17을 사용하지만 Pro 버전은 사용하지 않습니다)
Re: 게이지 R&R 분석 수행안녕,
매개변수가 많고 각 매개변수에 해당하는 별도의 공차 한계가 있는 경우 Gage R&R 분석을 수행하는 것을 어떻게 제안하시겠습니까? 비디오에 표시된 것처럼 수동으로 수행하는 것이 지쳤지만 공차 한계를 하나씩 수동으로 삽입해야 하며 이는 수백 개의 매개변수가 있는 경우 실용적이지 않습니다.
나는 JSL 스크립트를 작성하는 데 지쳤지만 불행하게도 작동하는 버전을 만드는 데 성공하지 못했습니다.
Gage R&R 계산을 위해 매개변수별로 한도를 자동으로 삽입하는 방법이 있습니까? (저는 JMP 17을 사용하지만 Pro 버전은 사용하지 않습니다)
Re: 게이지 R&R 분석 수행안녕,
일반 JMP 게이지 연구에 언급된 분석은 일반적으로 부품당 하나의 측정값입니다.부품당 측정값이 여러 개인 경우 어떻게 평가하시겠습니까?예를 들어, 필름의 평균 두께를 측정합니까?또는 직경에 대해 여러 번 측정합니다.
각 측정값을 단독으로 사용하시겠습니까, 아니면 결정을 위해 해당 측정값의 평균을 사용하시겠습니까?측정값의 평균은 합격/불합격을 결정하는 데 사용됩니다.
