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산업문제 해결을 위한 통계적 사고
이 비디오에서는 파일을 사용합니다. 마이크로미터.jmp JMP에서 게이지 R&R 분석을 수행하는 방법을 보여줍니다.
본 연구에서 관심 있는 측정 시스템은 핸드 마이크로미터이며, 품질 특성은 금속 베어링의 직경이다. 이 연구에는 10개의 부품을 측정하는 세 명의 검사자가 포함되며 각 검사자는 각 부품을 두 번 측정합니다.
를 선택하자 측정 시스템 분석 에서 플랫폼 분석하다 아래 메뉴 품질 및 프로세스 .
우리는 선택 지름 ~처럼 Y, 응답 , 부분 ~처럼 부품, 샘플 ID 그리고 조사관 ~처럼 X, 그룹화 , 이하 MSA 방식 , 우리는 선택 게이지 R&R .
그만큼 모델 유형은 교차 , 모든 검사자가 모든 부품을 측정하기 때문입니다. 여러 분석 설정을 사용할 수 있습니다. 우리는 선택 REML 분석 사용 분산 성분을 추정하는 방법으로 클릭하고 좋아요 . 다른 분석 설정을 선택하면 결과가 약간 다를 수 있습니다. 분산 성분을 추정하는 데 사용할 수 있는 방법에 대한 자세한 내용을 보려면 JMP 도움말에서 분산 성분을 검색하십시오.
마지막으로 클릭합니다. 좋아요 분석을 실행합니다.
에 대한 변동성 차트 지름 각 검사자가 측정한 각 부품에 대한 반복 측정을 나타냅니다.
게이지 R&R 분석을 수행하기 위해 다음을 선택합니다. 게이지 연구 상단의 빨간색 삼각형에서 게이지 R&R .
K, 시그마 승수는 6입니다. 이는 프로세스 폭을 6 표준 편차로 정의합니다.
규격 한계 또는 규격 한계의 너비인 공차 구간을 입력할 수 있습니다. 3cm의 공차 간격을 입력합니다.
게이지 R&R 및 분산 구성 요소의 두 가지 출력 테이블이 제공됩니다.
분산 성분 표에는 각 변동 원인에 대한 분산이 요약되어 있습니다.
게이지 R&R 표에는 공차 간격(사양의 폭)과 관련된 변동 원인이 요약되어 있습니다. 각 변동 원인에 대해 표준 편차 추정치의 6배가 변동(6*StdDev) 열 아래에 보고됩니다. 그런 다음 이 결과를 공차 구간과 비교합니다.
예를 들어 반복성을 생각해 보십시오. 반복성 변동으로 인한 잠재적인 측정 폭은 1.23cm입니다. 사양 제한은 폭이 3cm입니다. 반복성으로 인한 변동성은 1.23을 3.0으로 나눈 값 또는 사양 한계 폭의 41%입니다.
측정 변동의 모든 원인을 포함하는 총 게이지 R&R 변동은 폭이 1.34cm입니다. 이는 사양 제한의 44.53%입니다.
이 값은 정밀도 대 공차(또는 P/T) 비율로도 보고됩니다. 여기서 정밀도는 총 게이지 R&R 변동이고 공차는 사양의 폭입니다. P/T 비율은 44.53입니다.
P/T 비율이 10% 미만인 측정 시스템은 일반적으로 좋은 것으로 간주됩니다. P/T 비율이 10~30%인 측정 시스템은 측정이 얼마나 중요한지, 시스템을 개선하는 데 드는 비용과 같은 요인에 따라 허용 가능한 것으로 간주될 수 있습니다. P/T 비율이 30% 이상인 측정 시스템은 일반적으로 개선이 필요한 것으로 간주됩니다.
측정 편차를 사양과 비교할 때 측정 시스템에 개선이 필요함을 분명히 알 수 있습니다.
안녕 @줄리안 사용자 줄리안 @drotshil 당신에게 이 질문을 했습니다"
매개변수가 많고 각 매개변수에 해당하는 별도의 공차 한계가 있는 경우 Gage R&R 분석을 수행하는 방법을 제안하시겠습니까? 비디오에 표시된 대로 수동으로 수행하는 데 지쳤지만 수백 개의 매개변수가 있는 경우 실용적이지 않은 수동으로 허용 한계를 하나씩 삽입해야 합니다.
나는 JSL 스크립트를 작성하는 데 지쳤지만 불행히도 작동하는 버전을 만드는 데 성공하지 못했습니다.
Gage R&R 계산을 위해 매개변수당 제한 삽입을 자동으로 수행하는 방법이 있습니까? (저는 JMP 17을 사용하지만 Pro 버전은 사용하지 않습니다)
안녕,
매개변수가 많고 각 매개변수에 해당하는 별도의 공차 한계가 있는 경우 Gage R&R 분석을 수행하는 방법을 제안하시겠습니까? 비디오에 표시된 대로 수동으로 수행하는 데 지쳤지만 수백 개의 매개변수가 있는 경우 실용적이지 않은 수동으로 허용 한계를 하나씩 삽입해야 합니다.
나는 JSL 스크립트를 작성하는 데 지쳤지만 불행히도 작동하는 버전을 만드는 데 성공하지 못했습니다.
Gage R&R 계산을 위해 매개변수당 제한 삽입을 자동으로 수행하는 방법이 있습니까? (저는 JMP 17을 사용하지만 Pro 버전은 사용하지 않습니다)
안녕,
일반 JMP 게이지 연구에 언급된 분석은 일반적으로 부품당 하나의 측정입니다.부품당 여러 측정값이 있는 경우 어떻게 평가하시겠습니까?예를 들어, 필름의 평균 두께 측정?또는 직경에 대해 여러 번 측정합니다.
각 측정을 단독으로 수행하시겠습니까, 아니면 결정을 위해 해당 측정의 평균을 취하시겠습니까?측정의 평균은 합격/불합격을 결정하는 데 사용됩니다.
