Hallo,
Ich arbeite in der Halbleiterindustrie. Nehmen wir an, ich habe eine Waffel.Dieser Wafer hat Chips, die wie gezeigt um den Wafer herum verteilt sind. Innerhalb jedes Würfels gibt es Zeilen / Spalten, die jeweils Gradienten einer Metrik an einem bestimmten Punkt darstellen. Von links nach rechts beginnt beispielsweise Metrik A bei einem Maximalwert und schrumpft rechts zum Minimalwert.Von oben nach unten folgt Metrik B demselben Muster.
Ich habe eine Waferkartenform eingerichtet, bei der jede Formnummer der Würfel ist. Die Werte für alle farbigen Metriken werden jedoch aufgrund der Kartenform innerhalb des Würfels gemittelt.Gibt es eine Möglichkeit, dieses Mittelungsverhalten innerhalb jedes Chips in eine Konturkarte umzuwandeln? Wenn ich im Graph Builder auf die Konturoption klicke, wird die Visualisierung leer.
Ich habe danach gesucht, aber ich habe keine Antworten gefunden.
Vielen Dank im Voraus!
