Dans le secteur des semi-conducteurs et des domaines connexes, les données présentent souvent de multiples sources de variation : variation d'un lot à l'autre, d'une tranche à l'autre et d'un site à l'autre. Lors de la création de cartes de contrôle, un point représente généralement un lot. Ce lot correspond habituellement à une moyenne, les points multiples étant mesurés à partir de cette moyenne et répartis sur plusieurs tranches et/ou sites. Dans les calculs traditionnels des limites de contrôle Xbar, la variation intra-sous-groupe est utilisée pour calculer les limites de la carte Xbar. Or, les variations d'une tranche à l'autre et d'un site à l'autre peuvent être totalement indépendantes de la variation d'un lot à l'autre. Par conséquent, des limites de contrôle calculées à partir des variations d'une tranche à l'autre et d'un site à l'autre peuvent paraître absurdes sur une carte de contrôle Xbar où chaque point représente un lot. J'ai vu des exemples concrets de données, calculés selon la méthode traditionnelle des limites Xbar, où la quasi-totalité des points étaient considérés comme hors contrôle (OOC) en raison de limites trop strictes.
Il serait bien préférable que les limites de la carte de contrôle Xbar, dans cet exemple, soient basées sur la variation d'un lot à l'autre.
À ma connaissance, cette fonctionnalité n'est actuellement disponible que dans JMP17 via Analyse > Qualité et Processus > Cartes de contrôle héritées > Présumé . Je crains que la fonction Présumé ne soit supprimée (« Hérité ») dans une future version de JMP. Il faudrait soit la conserver comme plateforme dans JMP, soit créer une nouvelle plateforme offrant la même capacité de calcul des limites de contrôle à partir de la variation sur la même carte.
