Dans les données de semi-conducteurs et de semi-conducteurs adjacents, nous avons souvent plusieurs sources de variation dans nos données. Par exemple, la variation d'un lot à l'autre, la variation d'une plaquette à l'autre et la variation d'un site à l'autre. Lors de la création de cartes de contrôle, un point correspond souvent à un lot. Ce lot est généralement une moyenne, les multiples points mesurés à partir de cette moyenne de lot unique étant répartis sur plusieurs tranches et/ou sites. Dans les calculs traditionnels des limites de contrôle Xbar, la variation intra-sous-groupe est utilisée pour calculer les limites de la carte Xbar. Mais la variation de plaquette à plaquette et de site à site peut être totalement indépendante de la variation de lot à lot. Ainsi, les limites de contrôle calculées de plaquette à plaquette plus la variation de site à site peuvent sembler absolument ridicules sur une carte de contrôle Xbar où chaque point est 1 lot. J'ai vu des exemples de données réelles utilisant des calculs de limite Xbar traditionnels avec presque tous les points marqués comme OOC parce que les limites étaient si serrées.
Il serait préférable que les limites de la carte de contrôle X barre dans cet exemple de situation soient basées sur la variation de lot à lot.
Autant que je sache, cela n'est actuellement possible que dans JMP17 en utilisant Analyse>Qualité et processus>Cartes de contrôle héritées>Présumer . Je crains que le Presummarize ne soit sur le billot ("Legacy") pour une future version de JMP. Conservez-la en tant que plate-forme dans JMP ou créez une nouvelle plate-forme dotée de la même capacité de calcul des limites de contrôle à partir de la variation sur le même graphique.
