Mi scusi, sulla base di questi dati sono state inserite le specifiche di ogni colonna di controllo del processo, come contare il numero di wafer che soddisfano tutte le specifiche contemporaneamente? Per il processo, questa è la parte del test della resa complessiva.
Il metodo che attualmente utilizzo consiste nell'utilizzare il filtro dati per reinserire le specifiche di ciascun campo di controllo, filtrare i dati che soddisfano le specifiche e quindi eseguire la somma delle righe. C'è un modo migliore?Grazie per la risposta.
