Jerry Fish, JMP 시스템 엔지니어, SAS
Jason Wiggins, JMP 수석 시스템 엔지니어
모든 게이지에는 오류가 있습니다. 작을 수도 있고 클 수도 있지만 항상 존재합니다. 크든 작든 오류로 인해 게이지는 유형 1 및 유형 2 오류(불량 부품 통과 또는 양호한 부품 실패)를 만들 가능성이 있습니다. 사양 한계 근처에 있는 부품의 경우 오류 가능성이 더 높습니다. 이러한 오류는 실제 비용이 듭니다! 그러나 이러한 비용을 어떻게 정량화합니까? 이 백서는 2022년 JMP Americas Discovery 백서(2022-US-30MP-1123)에 나와 있는 결과를 기반으로 합니다. 이 백서는 게이지 성능을 정량화하는 방법과 게이지의 성능을 개선하기 위해 "정보 제조 사양"(또는 가드밴드)을 설정하는 방법을 논의했습니다. 좋은 부분과 나쁜 부분을 분리합니다. 이 백서에서는 실패한 부품을 개별적으로 통과하고 양호 부품을 거부하고 생산량을 예상하는 비용과 게이지 특성을 결합하는 방법을 논의하면서 학습 및 스크립트 기능을 확장합니다. 이것은 위험 분석에 대한 통찰력을 제공합니다. 예를 들어 게이지 오류를 설명하기 위해 얼마의 예산을 책정해야 하는지, 게이지를 개선하는 데 지출할지(또는 얼마를) 지출해야 하는지 등입니다.
