このウィッシュ リスト リクエストのきっかけは何ですか?
誤分類の確率に関する非正常な部分の変動とテスト/再テストの変動の場合に、いくつかの不正確さを発見しました。
あなたが見たいと思う改善は何ですか？
ノンパラメトリックまたはセミパラメトリック モデリング アプローチを使用したゲージ スタディ分析 (誤分類確率計算ピースを含む) のサポートを追加します。これには、誤分類確率レポート アウトラインでのブートストラップのサポートが含まれる場合と含まれない場合があります。
なぜこの考えが重要なのですか？
これにより、ゲージ R&R で調査したときに部品間および測定値の変動が非常に正常ではない (ただし、それでも安定していると見なされる) 場合に、推定のさまざまな精度が向上する可能性があります。
