제조업에서는 각각 센서에 해당하는 100개 이상의 열이 있는 데이터 세트를 처리하는 것이 매우 일반적입니다.
제조 시스템에는 PI AF에 정의된 트리 계층 구조가 있습니다(센서 이름을 찾기 위해 JMP 17 및 PI에서도 사용됨).
이 정보는 JMP 테이블로 이동할 때 손실됩니다.열을 재구성하는 추가 기능을 오픈 소스로 제공했습니다(참조: 이미지와 코드는 여기 )
하지만, JMP는 두 가지 수준(상위 그룹 및 하위)만 허용합니다. 조직 및 분석 측면에서 매우 제한적입니다.
제조 데이터의 경우, 여러 그룹화 수준은 필수 항목입니다. 그렇지 않으면 사용자가 제조 분야의 일상 업무에 JMP를 사용할 수 없습니다(처리할 정보가 너무 많음).
제발 PI AF 살펴보기 엔지니어가 데이터를 찾는 데 어떻게 사용되는지 이해합니다.
이 정보는 열 속성으로 코딩할 수 있습니다. 이 메타데이터를 통해 사용자는 결국 자산 간에 분석을 교환할 수 있습니다.
