透過 JMP 建構 PAT 規則的任務大家好，
我這麼問是因為我們要對新產品實作動態 PAT（部分平均測試）。
暫時想到這裡。
1. 將資料表載入到 JMP 中。
確定我們想要透過 JSL 顯示 +/- 6 sigma 的項目。 如果我想排除 +/-6 sigma 之外的座標，JMP 中的哪種功能/繪圖適合？
2. 座標的JMP規則之一，如何將座標輸出到簡單檔案？
3.以上所有我想自動喜歡的日常任務。
感謝您的幫助，很抱歉我嘗試在社區中搜尋但找不到答案，請教我如何處理這個問題。
進階統計建模自動化和腳本編寫消費者與市場研究資料混合與清理大規模客製化品質和工藝工程回覆：透過 JMP 建構 PAT 規則的任務我不確定我是否理解您如何對數據進行分組，但我懷疑分析...篩選...探索異常值平台可能是您正在尋找的。 我附上了包含您的資料的 JMP 表，其中包含一個腳本：
- 運行 Explore Outliers 平台，假設您想要查看 Icc_aux... 列中 DIE-Y 的每個分組的異常值（我可能會根據您的用例將其分組為錯誤）。
- 指定選擇 ± 6 Sigma、Huber 方法，並啟動穩健擬合離群值工具
- 選擇原始資料表中的所有離群值行。
- 顯示一個小圖表，其中選擇了異常值
回覆：透過 JMP 建構 PAT 規則的任務嗨傑德，
謝謝你的詢問。
這將是不同的情況。
另一種情況是使用 SPC 控製圖來監控晶圓廠流程，如 WAT。 我將使用 JMP 中的當前規則，如 1S、2S、3S....
PAT（部分平均測試）僅在Sort資料庫中實作。 很抱歉讓您感到困惑。
這裡的想法是，我們在晶圓排序中進行了10000 次測試，我們希望對好的單元應用平均值+/-6 sigma（每個數據點都有自己的值，意味著我們可以獲得每個項目的分佈）。
對於汽車產品，請遵循 JDEC 規範，我們希望排除在分佈中異常的合格晶片，即使它通過了規範。
因此，我希望獲得 JMP 的支持，如何排除超出 +/-6 sigma 的模具，然後列印到文件中
附上一份發行版作為您的參考。這裡的重點是排除超出平均值+/-西格瑪的數據點。
然後列印出帶有座標的檔案。
我嘗試附加 jrp 文件，但被系統拒絕。 我為您提供了原始數據的快照和樣本。
回覆：透過 JMP 建構 PAT 規則的任務嗨，麗春，
這是同一問題還是與您發布的另一個問題不同？
建立帶有自動警告的控製圖的任務 - JMP 用戶社區
我們很樂意提供協助，但希望確保我們不會兩次回答同一個問題。 
回覆：透過 JMP 建構 PAT 規則的任務你好 Lichun，你能開發一個 JSL 腳本來對一組資料執行 DPAT 分析嗎？如果你這樣做了，你能分享你的腳本嗎？我認為這將非常有用。順便說一句，還有其他演算法也可用於檢測異常值，例如 GDBN（壞鄰居中的好晶片）等。
