Aufgabe zum Erstellen einer PAT-Regel durch JMPHallo Team,
Ich frage das, weil wir dynamische PAT (Teildurchschnittstests) für das neue Produkt implementieren werden.
Hier ist die Idee vorübergehend.
1. Laden Sie die Datentabelle in JMP.
Identifizieren Sie das Element, das wir anzeigen möchten, mit +/- 6 Sigma von JSL. Welche Funktion/Plot ist von JMP geeignet, wenn ich Koordinaten außerhalb von +/-6 Sigma ausschließen möchte?
2. Wie kann ich anhand der JMP-Koordinatenregel die Koordinaten in eine einfache Datei übertragen?
3. Alle oben genannten Dinge möchte ich automatisch als tägliche Aufgabe erledigen.
Vielen Dank für jede Hilfe. Es tut mir leid, dass ich versuche, in der Community zu suchen, aber ich kann keine Antwort finden. Bitte zeigen Sie mir, wie ich damit umgehen soll.
Erweiterte statistische ModellierungAutomatisierung und SkripterstellungVerbraucher- und MarktforschungDatenmischung und -bereinigungMassenanpassungQualitäts- und VerfahrenstechnikBetreff: Aufgabe zum Erstellen einer PAT-Regel durch JMPIch bin mir nicht sicher, ob ich verstehe, wie Sie Ihre Daten gruppieren, aber ich vermute, dass die Plattform Analyze...Screening...Explore Outliers das ist, wonach Sie suchen. Ich habe eine JMP-Tabelle mit Ihren Daten angehängt, mit einem Skript, das:
- Führt die Explore Outliers-Plattform aus, vorausgesetzt, Sie möchten Ausreißer in der Spalte icc_aux... für jede Gruppierung von DIE-Y betrachten (ich gruppiere dies wahrscheinlich falsch für Ihren Anwendungsfall).
- Legt fest, dass ± 6 Sigma und die Huber-Methode ausgewählt werden sollen, und startet das Werkzeug Robust Fit Outliers
- Wählt alle Ausreißerzeilen in der Originaldatentabelle aus.
- zeigt ein kleines Diagramm mit den ausgewählten Ausreißern
Betreff: Aufgabe zum Erstellen einer PAT-Regel durch JMPHallo Jed,
Danke für die Frage.
Das wird ein anderer Fall sein.
Ein anderer Fall ist die SPC-Kontrollkarte zur Überwachung von Fab-Prozessen wie WAT. Ich werde die aktuelle Regel in JMP verwenden, z. B. 1S, 2S, 3S ....
PAT (Teildurchschnittstest) ist nur in der Sortierdatenbank implementiert. Es tut mir leid, Sie zu verwirren.
Die Idee hier ist, dass wir ungefähr 100 Tests in der Wafer-Sortierung haben, bei denen wir einen Durchschnitt von +/-6 Sigma für die gute Einheit anwenden möchten (jeder Datenpunkt hat seinen eigenen Wert, was bedeutet, dass wir eine Verteilung für jedes Element erhalten können).
Befolgen Sie bei Automobilprodukten die JDEC-Spezifikation, sodass wir den Pass-Chip ausschließen möchten, der bei der Verteilung Ausreißer darstellt, selbst wenn er die Spezifikation erfüllt.
Daher würde ich gerne Unterstützung von JMP erhalten, wie ich den Chip ausschließen kann, der nicht mehr +/-6 Sigma hat, und ihn dann in eine Datei ausdrucken kann
Als Referenz habe ich eine Distribution beigefügt. Hier geht es darum, den Datenpunkt auszuschließen, der außerhalb des Mittelwerts +/- Sigma liegt.
Drucken Sie anschließend die Datei mit den Koordinaten aus.
Ich versuche, eine JRP-Datei anzuhängen, aber dies wurde vom System abgelehnt. Ich habe Ihnen einen Schnappschuss und ein Beispiel von Rohdaten zur Verfügung gestellt.
Betreff: Aufgabe zum Erstellen einer PAT-Regel durch JMPHallo Lichun,
Ist das das gleiche Problem oder ein anderes als das andere, das Sie gepostet haben?
Aufgabe zum Erstellen eines Kontrolldiagramms mit automatischer Warnung – JMP User Community
Wir helfen Ihnen gerne weiter, möchten aber sicherstellen, dass wir nicht dieselbe Frage zweimal beantworten. 
Betreff: Aufgabe zum Erstellen einer PAT-Regel mit JMPHallo Lichun, konnten Sie ein JSL-Skript entwickeln, das eine DPAT-Analyse für einen Datensatz durchführt? Wenn ja, können Sie Ihr Skript bitte freigeben? Ich denke, es wird sehr nützlich sein. Übrigens gibt es auch andere Algorithmen, die ebenfalls nützlich sind, um Ausreißer wie GDBN (Good Die in Bad Neighborhood) usw. zu erkennen.
