大家好，
我整理了一个使用自定义映射来突出显示半导体平面图和晶圆图中的空间缺陷的示例。
该技术之前曾在 Discovery 2015 上介绍过：
https://community.jmp.com/t5/Discovery-Summit-2015/System-on-Chip-SOC-Yield-Visualization-Using-Custom-Heat-Maps-in/ta-p/22797
这可以用作展示 JMP 能够以可视方式和交互方式识别数据中空间特征的方法。
安装说明：
在打开“IC_Floorplan.jmp”之前，在本地安装 JMP 的“Maps”文件夹中安装以下文件（例如：C:\Program Files\SAS\JMPPRO\13\Maps）。
“IC_Layout-Name.jmp”
“IC_Layout-XY.jmp”
Custom Floorplan Heat Map自定义平面图热图
Custom Floorplan w/ Wafer Map带有晶圆图的定制平面图
