Qu'est-ce qui a inspiré cette demande de liste de souhaits ? Explorer différents types de défauts dans une carte C est fastidieux. L'aperçu du type de défaut sous le sélecteur d'événements se ferme chaque fois qu'une case est cochée ou désélectionnée. Par exemple, lorsque je génère une carte C à l'aide du tableau de données de l'échantillon Cabinet Defects.jmp et que je souhaite modifier le type de défaut de Placage meurtri à Placage à carreaux, je dois cliquer pour ouvrir le contour > décocher Placage meurtri (le contour se ferme) > cliquer pour ouvrir contour > check Placage quadrillé (contour fermé). Le processus devient plus fastidieux si je veux utiliser plus d'un type de défaut. L'utilisateur est tenu de faire plus de clics que nécessaire. Cela ajoutera du temps inutile à une analyse. La démonstration d'un C-Chart dans le générateur de graphiques semblera probablement maladroite pour le public.
Veuillez décrire la fonctionnalité ou la solution nouvelle ou améliorée que vous aimeriez voir.Gardez le contour du type de défaut ouvert
Quelle serait la valeur pour vous et/ou les autres utilisateurs si cette nouvelle fonctionnalité était fournie ?Garder le plan ouvert réduira le nombre de clics et le temps d'analyse
S'agit-il d'une demande client externe ?Non
Existe-t-il un progiciel concurrent doté de cette fonctionnalité ou solution dont nous devrions être conscients ?Pas que je sache.
Cela aura-t-il un impact sur un renouvellement, une expansion ou une adoption chez un client, et cela mettra-t-il un compte en danger si nous ne réglons pas ce problème ?Peut avoir un impact sur le renouvellement ou l'adoption.
Salut @Jason_Wiggins , Merci pour votre suggestion! Nous avons enregistré votre demande et la prendrons en considération.
Il semble que cela ait été récemment implémenté dans JMP 18. Voir:
