測試時間優化如果您在半導體行業（或任何對產品進行大量測試的行業）工作，那麼減少測試時間是降低製造運營成本的主要組成部分。 半導體測試時間很昂貴，並且預計增加，對半導體器件的總製造成本貢獻很大。 減少測試時間將轉化為大量節省，特別是對於大批量和復雜的產品。
雖然有專門的軟件可用於完成此任務，但我想演示如何使用自定義插件在 JMP 中執行此任務。插件允許用戶將 JMP 開箱即用的功能擴展到自定義應用程序中。 這是通過 JMP 腳本完成的，您可以使用它創建任何類型的自定義功能。 要安裝此插件，請下載 .jmpaddin 文件以及兩個示例 .jmp 文件，然後使用 JMP（文件 > 打開）打開 .jmpaddin 文件。 使用 JMP 打開 .jmpaddin 文件將安裝它，並且可以從 JMP 的插件菜單訪問該插件。
此插件需要兩組數據：.jmp 數據表格式的運行錯誤 (ROE) 測試數據和測試時間數據。 錯誤運行是必需的，這樣優化器插件可以確定哪些測試具有重疊的測試覆蓋率，並結合測試時間使用它來確定最佳測試順序。 此優化不適用於 stop-on-fail 測試數據。 本博客所附的 .jmp 文件是 ROE 和測試時間數據表所需格式的示例。 （筆記： ROE 數據需要有值 1 表示測試失敗，0 表示測試通過每行是一個不同的單元被測試）。
讀我的測試時間優化化博客查看我如何將 .jmp 文件與插件一起使用。如果您對測試時間優化器加載項有任何疑問，請在下方評論或通過電子郵件與我聯繫（ mark.zwald@jmp.com ).
Test-Time Optimizer ResultsTest-Time Optimizer Results測試時間優化器結果
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